Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

'Документ'
Данный раздел пособия представляет собой систематизированный информационный модуль, предназначенный для организации непосредственной практической раб...полностью>>
'Документ'
ІВАН КАРПЕНКО-КАРИЙ (1845—1907) ХАЗЯЇН Дійові люди: Терентій Гаврилович Пузир —хазяїн, мільйонер. Марія Іванівна —його жінка. Соня —їх дочка. Феноген ...полностью>>
'Документ'
Цель: сформировать представление о здоровье как одной из главных ценностей человеческой жизни; выделить компоненты здоровья человека; познакомить дет...полностью>>
'Документ'
3.1. Работник обязан приступить к исполнению трудовых обязанностей с 200 г. и добросовестно выполнять свои обязанности в соответствии с должностной и...полностью>>

«Методы микроскопии»

Главная > Учебная программа курса
Сохрани ссылку в одной из сетей:

2. Разработка сетевых программ обучения и подготовки слушателей и студентов для сети Образовательных учреждений на базе межрегионального отраслевого ресурсного центра

Разработанные программы учебных курсов и профессионального модуля разработаны в соответствии с ФГОС СПО, согласованы с ФНПЦ ОАО «Красногорский завод им. С.А.Зверева» и МГТУ им. Н.Э.Баумана, утверждены директором ФГОУ СПО «Красногорский государственный колледж».

2.1 Программа курса «Методы микроскопии»

Пояснительная записка

Учебная программа курса «Методы микроскопии» охватывает основные вопросы по проведению измерений различными методами и методиками, анализа результатов измерений, а также выработки выводов по результатам исследований и наиболее эффективному и адекватному применению.

Учебный курс «Методы микроскопии» строиться на основе оптимального соотношения теоретических и прикладных вопросов с обязательным участием слушателей в самостоятельном исследовании нанообъектов и наносистем. Программа курса повышения квалификации направлена на решение задач, которые ставятся перед специалистами в современных условиях разработки и производства наносистем, требующих широких знаний как в области проектирования и технологии производства, так и в методах их сертификации и измерений. Лабораторные работы, включенные в состав учебного курса «Методы микроскопии», спланированы таким образом, чтобы слушатели могли закрепить теоретические знания, полученные на лекциях, а также смогли сами провести измерения наносистем различными методами микроскопии.

Учитывая большое разнообразие измерительных методов и приборов для проведения измерений, в состав курса «Методы микроскопии» включены лабораторные работы по основным методам измерений. Лабораторные работы ориентируют студентов на решение типовых задач исследования и анализа нанообъектов, возникающих при производстве элементной базы электронной аппаратуры, выбор соответствующих поставленной задаче методов и методик проведения измерений, обладающих максимальной эффективностью. Темы лабораторных работ и их содержание связаны с формированием и развитием у специалистов практических навыков измерения, анализа результатов измерений и формулирования выводов по наиболее эффективному применению методов и средств микроскопии.

В составе курса «Методы микроскопии» предусмотрены теоретические разделы, по которым имеются доступные учебно-методические материалы и учебная литература, изучаемые студентами самостоятельно.

Программа повышения квалификации по микроскопии построена таким образом, что возможно изменение структуры курса в зависимости от пожеланий слушателей и работодателей. Первый вариант предполагает очное пребывание на занятиях весь период обучения и в этом случае разделы теоретических лекций будут сопровождаться практическими и лабораторными занятиями по мере их проведения. Второй вариант делит программу на два блока (теоретический и практический) и рассчитан на безотрывное от основной работы обучение слушателей в режиме дистанционного обучения по всему теоретическому блоку. Лабораторные работы подразумевают очное пребывание слушателей на базе Ресурсного центра Красногорского государственного колледжа.

Целью курса «Методы микроскопии» является развитие представления об основных методах исследований средствами микроскопии, приобретение навыков практического использования различных методик в исследовании нанообъектов.

Задачи курса:

  • рассмотреть основные понятия, аспекты и тенденции в области нанотехнологий;

  • дать характеристику основным методам микроскопии;

  • рассмотреть области применения различных методов микроскопии;

  • изучить методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ);

  • изучить методы растровой электронной микроскопии (РЭМ);

  • изучить методы рентгеноспектрального микроанализа;

  • изучить методы оптической микроскопии (СБОМ);

  • выработать практические навыки работы различными методами микроскопии.

Знания, умения и профессиональные компетенции, получаемые псле освоение курса:

В результате повышения квалификации в рамках курса «Методы микроскопии» слушатели должны приобрести следующие компетенции:

  • представление о тенденциях и современных методах исследований в области наноиндустрии;

  • умение свободно ориентироваться в основных методах и системах микроскопии;

  • понимание сути эффектов и процессов, лежащих в основе каждого из изучаемых методов;

  • представление о современной приборной базе в различных методах микроскопии;

  • умение самостоятельно разрабатывать методику и проводить измерения нанообъектов и наносистем различными методами микроскопии;

  • умение обрабатывать результаты, полученные в ходе работы методами микроскопии.

Список сокращений

АСМ – атомно-силовая микроскопия

ДНК – дизоксирибонуклеиновая кислота

ИС – интегральная схема

КЕМ – контактная ёмкостная микроскопия

КНИ – кремний-на-изоляторе

МЛЭ – молекулярно-лучевая эпитаксия

МПВ – метод постоянной высоты

МПТ – метод постоянного тока

МСМ – магнитно-силовая микроскопия

МЭМС – микроэлектромеханическая система

НПМ – нанопористый материал

НРС – наноразмерная структура

НЭМС – наноэлектромеханическая система

ПАВ – поверхностные акустические волны

ПЭМ – просвечивающая электронная микроскопия

РСМА – рентгеноспектральный микроанализ

РЭМ – растровая электронная микроскопия

СБИС – сверхбольшие интегральные схемы

СБОМ – сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия

СВД спектрометр волновой дисперсии

СВЧ – сверхвысокие частоты

СЗМ – сканирующая зондовая микроскопия

ССМ – сканирующая силовая микроскопия

СТМ – сканирующая туннельная микроскопия

СЭМ – сканирующая электронная микроскопия

УФ – ультрафиолет

ЧЭ – чувствительный элемент

ЭСМ – электростатическая силовая микроскопия

ТЕМАТИЧЕСКИЙ ПЛАН

Таблица 6 – тематический план

№ п/п

Название темы

Кол-во часов

В том числе:

Лекций

Лабораторные

работы

1

2

3

4

5

1.

Наноразмерные структуры:
классификация, формирование
и исследование

4

4

-

Продолжение таблицы 6

1

2

3

4

5

1.1.

Общие сведения о наноразмерных структурах

1

1

-

1.2

Особенности свойств наноструктур

1

1

-

1.3

Применение наноструктур для создания элементов приборных устройств

2

2

-

2.

Сканирующая зондовая микроскопия

40

18

22

2.1

Основные теоретические положения
о методах микроскопии

4

4

-

2.2

Сканирующая туннельная микроскопия

12

4

8

2.3

Контактная сканирующая атомно-силовая микроскопия

12

4

8

2.4

Прерывисто-контактная сканирующая силовая микроскопия

2

2

-

2.5

Бесконтактная атомно-силовая микроскопия

2

2

-

2.6

Многопроходные методики

6

2

6

3.

Оптическая микроскопия

12

6

6

3.1

Световая микроскопия. Методы световой микроскопии

6

2

6

3.2

Конфокальная микроскопия

2

2

3.3

Сканирующая ближнепольная оптическая
микроскопия

6

2

4.

Растровая электронная микроскопия

10

4

6

4.1

Физические основы растровой электронной
микроскопии

2

2

-

Продолжение таблицы 6

1

2

3

4

5

4.2

Устройство и работа растрового электронного
микроскопа

8

2

6

5.

Физические основы рентгеноспектрального
микроанализа

6

6

-

5.1

Физические основы рентгеноспектрального
микроанализа

2

2

-

5.2

Устройство и работа рентгеноспектрального
микроанализатора

4

2

-

Всего

72

38

34

Содержание курса

  1. Наноразмерные структуры: классификация, формирование
    и исследование

1.1. Общие сведения о наноразмерных структурах:

наноструктуры различной размерности, классификация консолидированных наноматериалов, классификация наноразмерных структур по топологии, Пространственные масштабы современных систем

1.2 Особенности свойств наноструктур:

термодинамические свойства, магнитные свойства, влияние размерного фактора на характеристики ферромагнетиков, сегнетоэлектриков и сегнетоэластов

1.3Применение наноструктур для создания
элементов приборных устройств
:

Наноструктуры в элементах приборных устройств

2. Сканирующая зондовая микроскопия

2.1 Основные теоретические положения о методах микроскопии:

Базовые средства и методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), оборудование, используемое в СЗМ, сканирующая зондовая микроскопия NanoEducator, принцип работы туннельной микроскопии

2.2 Сканирующая туннельная микроскопия:

Метод постоянного тока, метод постоянной высоты, метод отображения работы выхода, метод I(z)-спектроскопии, метод I(V)-спектроскопии

2.3 Контактная сканирующая атомно-силовая микроскопия:

Метод постоянной силы, метод постоянной высоты, контактный метод рассогласования, микроскопия латеральных сил, метод модуляции силы, отображение силы растекания, контактная электростатическая силовая микроскопия, атомно-силовая акустическая микроскопия, АСАМ-резонансная спектроскопия

2.4 Прерывисто-контактная сканирующая силовая микроскопия:

Прерывисто-контактный метод, прерывисто-контактный метод рассогласования, метод отображения фазы

2.5 Бесконтактная атомно-силовая микроскопия:

Бесконтактный метод

2.6 Многопроходные методики:

Статическая магнитно-силовая микроскопия, динамическая магнитно-силовая микроскопия, электростатическая силовая микроскопия, метод зонда Кельвина, сканирующая ёмкостная микроскопия (СЭМ)



Скачать документ

Похожие документы:

  1. Метод компьютерного моделирования капиллярной поровой структуры тяжелого бетона 05. 23. 05 Строительные материалы и изделия

    Автореферат
    Защита состоится «23» декабря 2005 г. в 16-00 часов на заседании диссертационного совета Д 212.265.01 Томского государственного архитектурно-строительного университета по адресу: 634003 г.
  2. «Дифракция электронов. Электронный микроскоп»

    Реферат
    Когда на пороге XVII столетия был создан первый микроскоп, вряд ли кто-либо (и даже его изобретатель) мог представить будущие успехи и многочисленные области применения микроскопии.
  3. Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии 1 июня, вторник Утро 10. 00 14. 00

    Программа
    А.В. Говорков, А.В. Марков, А.Я. Поляков, С.С. Малахов, М.В. Меженный, В.Ф. Павлов, М.П. Духновский, А.К. Ратникова, Ю.Ю. Федоров, О.Ю. Кудряшов, И.А. Леонтьев, В.
  4. Световой микроскоп. Микроскоп

    Документ
    Микроскоп (от микро и греч. skopeo — смотрю), оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом.
  5. Программа по дисциплине опд ф. 08 " Методы исследования материалов и процессов" для направления

    Программа
    Цель преподавания данной дисциплины состоит в изложении принципов работы и определении возможностей использования инструментальных методов анализа состава, структуры и свойств материалов и покрытий, явлений и процессов в них на различных

Другие похожие документы..