Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

'Программа'
Программа предусматривает возможность выбора одной из специализаций: «Стратегическое планирование на мезоуровне»; «Стратегическое планирование на микр...полностью>>
'Документ'
(с учетом изменений, внесенных постановлениями Министерства финансов Республики Беларусь от 23.07.2004 № 114, рег. № 8/11304 от 29.07.2004; 07.07.200...полностью>>
'Закон'
расчета показателей и применения критериев эффективности региональных инвестиционных проектов, претендующих на получение государственной поддержки за...полностью>>
'Документ'
В соответствии с распоряжением Правительства Российской Федерации от 26 апреля 2002 г. N 554-р, в целях привлечения молодежи к регулярным занятиям физ...полностью>>

Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии 1 июня, вторник Утро 10. 00 14. 00

Главная > Программа
Сохрани ссылку в одной из сетей:

Предварительная программа XXIII Российской конференции по электронной микроскопии

1 июня, вторник Утро 10.00 – 14.00

Открытие конференции

Вступительное слово

Устные доклады

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОЦЕССОВ ФАЗОВОГО РАССЛОЕНИЯ В НАНОМАТЕРИАЛАХ

А.Л.Васильев

Структура и оптические свойства массива Si/Ge квантовых точек

Н.Д.Захаров, В.Талалаев, А.Тонких, Г.Цырлин, П.Вернер

НИЗКОВОЛЬТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ В ИССЛЕДОВАНИИ НАНОУГЛЕРОДНАХ МАТЕРИАЛОВ

А.Л. Чувилин, J.C. Meyer, G. Algara-Siller, A.N. Khlobystov, U. Kaiser

НАБЛЮДЕНИЕ АТОМОВ КАТИОНОВ В НАНОКОМПОЗИТАХ

1Dкристалл@ОСНТ МЕТОДОМ ВРЭМ.

Н.А. Киселев, Р.М. Закалюкин, А.С. Кумсков, А.Л. Васильев, А.А. Елисеев, А.В. Кристинин

ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЭМ НА ОДНОСТЕННЫХ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБКАХ В СВЯЗИ С ПРОВОДЯЩИМИ СВОЙСТВАМИ НАНОТРУБОК

Касумов Ю.А., Ходос И.И., Матвеев В.Н., Касумов А.Ю., Волков В.Т.

STRUCTURAL INVESTIGATIONS OF LaAlO3 THIN FILMS DEPOSITED ON TiO2-TERMINATED SrTiO3

E. Nikulina, E. Pippel, W. Peng, D. Hesse, and I. Vrejoiu

Просвечивающая электронная микроскопия эволюции структуры пленок Fe88Zr10N11 после отжига.

Д.Н. Хмеленин, О.М. Жигалина, Е.Н. Шефтель, Г.Ш. Усманова, A. Carlsson

АНАЛИЗ ВЗАИМНОГО РАСПОЛОЖЕНИЯ БОЛЬШОЙ СОВОКУПНОСТИ НАНООБЪЕКТОВ И ИХ ЛОКАЛЬНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Н.И. Боргардт, Р.Л. Волков. В.Н. Кукин, А.А. Маляров

Обед 14.00 – 15.00

15.00 – 16.00

Структура наночастиц селена, полученных в водных растворах полимеров.

Е.И. Суворова, В.В. Клечковская, А.К.Хрипунов

СТРУКТУРА САМООРГАНИЗОВАННЫХ АНСАМБЛЕЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОЧАСТИЦ НА УГЛЕРОДНЫХ ПОДЛОЖКАХ

М.А. Запорожец, Д.А. Баранов, О.М. Жигалина, В.И.Николайчик, В.В. Волков, К.А. Дембо, С.Н. Сульянов, С.П. Губин, А.С. Авилов, И.И. Ходос

ВРЭМ И АСМ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛИМЕРНЫХ НАНОСИСТЕМ НА ОСНОВЕ НАНОЧАСТИЦ СЕЛЕНИДА ЦИНКА

Т.Е. Суханова, Г.Н. Матвеева, М.Э. Вылегжанина, А.Я. Волков, С.В. Валуева,
Л.Н. Боровикова, Н.А. Матвеева

Вечер 16.00 – 18.00

Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

Время

Фирма

Докладчик

Название доклада

16:00

JEOL

E. OKUNISHI

Application specialist of TEM

Advanced technology of atomic level direct observation and analysis in TEM

16:30

Oxford Instruments NanoAnalysis, UK

Martyn Green

Nanoscale microanalysis with the X-Max TEM

17:00

Leica Mycrosystems

Dr. Wolfgang Grünewald

TIC 020 – unique device for preparation of cross-sections for SEM

17:20

НаноСкан Технология

Душкин И.В.

Интегрирование методик сканирующей зондовой микроскопии и оптической микроскопии.

17:40

Intertech corporation

Шафоростов А.А.

Новые технологии сканирующей зондовой микроскопии от Asylum Research.

2 июня, среда Утро 9.30 – 14.00

Метод и аппаратура электронной микротомографии в РЭМ.

Э.И. Рау

Исследования катодолюминесценции светоизлучающих структур на основе ingan/gan

П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Е. Якимов, Е.Б. Якимов

Исследование структурных и люминесцентных характеристик пленок нитрида галлия, выращенных на подложках из поликристаллического алмаза

А.В. Говорков, А.В. Марков, А.Я. Поляков, С.С. Малахов, М.В. Меженный, В.Ф. Павлов, М.П. Духновский, А.К. Ратникова, Ю.Ю. Федоров, О.Ю. Кудряшов, И.А. Леонтьев, В.Б. Митюхляев

Влияние дефектов структуры на люминесценцию пленок карбида кремния

Э.А.Штейнман, А.Н.Терещенко, Е.Б.Якимов, К.Н.Филонов

3D РЕКОНСТРУКЦИЯ МИКРО– И НАНОРАЗМЕРНЫХ ОБЪЕКТОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИСТЕМ DUAL BEAM FIB / SEM

О.Л.Голикова, А.В.Беспалов, В.Я. Шкловер, П.Р.Казанский

Планарные периодически поляризованные волноводные структуры на подложках из ниобата лития

Л.С. Коханчик, М.В. Бородин, В.В.Щербина, А.Ю. Печенкин, С.М. Шандаров, Л. Я. Серебренников, С.А. Кузнецова, В.В. Козик

Применение плазменной очистки образцов в сканирующей спин-поляризованной электронной микроскопии

С.А.Гусев, М.Н.Дроздов, Е.В. Скороходов

контроль наночастиц, новый путь его осуществления.

С.К. максимов, к.с. максимов

Методы дифракции электронов в электронной кристаллографии

Авилов А.С.

Разработка электронно-оптической системы для низковольтной системы 2D мониторинга шаблонов для импринт – литографии

В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

НАНОМЕТРОЛОГИЯ ЛИНЕЙНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ В РОССИИ

Ю.А. Новиков, А.В. Раков, П.А. Тодуа

Обед 14.00 – 15.00

16.00 – 18.00

Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

Время

Фирма

Докладчик

Название доклада

16:00

IFG Institute for Scientific Instruments, Германия

Natalia Kemf / Наталья Кемф

iMOXS - unique combination of EDS and XRF microanalysis

16:20

Raith GmbH, Германия

Martin Kirchner

Raith lithography system solutions for advanced research

16:40

Carl Zeiss

ООО "ОПТЭК"

Киселева О.И.

"Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств наноструктур".

17:00

Bruker

Сатаров А.Г.

17:20

17:40

3 июня, среда Утро 9.30 – 14.00

ИССЛЕДОВАНИЕ ИНДУЦИРОВАННЫХ СОСТОЯНИЙ В МАНГАНИТАХ МЕТОДАМИ АСМ

Д.А.Бизяев, P.В. Юсупов, А.А.Бухараев, С.А. Мигачев, Р.Ф.Мамин

ЗАПИСЬ И ИССЛЕДОВАНИЕ РЕГУЛЯРНЫХ МИКРОДОМЕННЫХ СТРУКТУР В ЧИСТЫХ И ЛЕГИРОВАННЫХ КРИСТАЛЛАХ НИОБАТА БАРИЯ-СТРОНЦИЯ МЕТОДОМ СЗМ

Л.В. Симагина, Р.В. Гайнутдинов, О.А. Лысова, Т.Р. Волк, А.Л. Толстихина, Л.И. Ивлева

МАГНИТНО – СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ФЕРРОМАГНИТНЫХ НАНОЧАСТИЦ КРЕСТООБРАЗНОЙ ФОРМЫ

В.Л.Миронов, Б.А.Грибков, О.Л.Ермолаева, А.А.Фраерман

АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ЖИВЫХ КЛЕТОК.

И. А. Няпшаев, А. В. Анкудинов

МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛАСТОМЕРНЫХ КОМПОЗИТОВ ПРИ ПОМОЩИ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

И.А. Морозов

ТЕРМОСТИМУЛИРОВАННАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ СЕГРЕГАЦИЯ В МОНОКРИСТАЛЛАХ ФЕРРИТА ВИСМУТА: ВРЭМ, РСМА, АСМ

Ю.Я.Томашпольский, Н.В.Садовская

НЕОБЫЧНЫЕ ОРАНЖЕВЫЕ ИМПАКТНЫЕ СТЕКЛА ИЗ МОРЯ КРИЗИСОВ.

Горностаева Т.А., Мохов А.В., Карташов П.М., Богатиков О.А., Ашихмина Н.А.

АРСЕНОФЛОРЕНСИТ-(La) – НОВЫЙ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЙ МИНЕРАЛ, ИЗУЧЕННЫЙ В АСЭМ.

Карташов П.М., Мохов А.В., Суворова Л.Ф.

ИЗУЧЕНИЕ МИНЕРАЛЬНОГО СОСТАВА КИМБЕРЛИТОВ МЕТОДОМ РСМА

Л.Ф. Суворова, Д.А. Яковлев, С.И. Костровицкий

Обед 14.00 – 15.00

Обед для секции VIII 13.00 – 14.00

Вечер 14.00 – 18.00

УНИВЕРСАЛЬНОСТЬ СТРУКТУРНОЙ ОРГАНИЗАЦИИ И МЕХАНИЗМОВ СБОРКИ ЯДЕРНЫХ ПОР В ЖИВОТНЫХ И РАСТИТЕЛЬНЫХ КЛЕТКАХ

Киселева Е.В.

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ: НОВЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, ПЕРСПЕКТИВЫ

Я.Ю. Комиссарчик

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДВУХЛУЧЕВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА QUANTA 200 3D ДЛЯ АНАЛИЗА БИОЛОГИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ

Н.В. Шевлягина, Л.В. Диденко, П.Р. Казанский

3D ОРГАНИЗАЦИЯ ХРОМАТИНА И ЯДРЫШЕК В СОМАТИЧЕСКИХ ЯДРАХ ИНФУЗОРИЙ

О.Г. Леонова, Б.П. Караджян, Ю.Л. Иванова, Ю.Ф. Ивлев, В.И. Попенко

Применение зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии для исследования процессов репарации с использованием нанодисперсных трансплантатов

О. В. Карбань, В.В.Жаров, П.А.Перевозчиков, Ю.Г.Васильев, С.И.Леесмент, С.В.Тимофеев, Коныгин Г.Н.

ПРОСТРАНСТВЕННАЯ РЕКОНСТРУКЦИЯ КАПСИДОВ CAUDOVIRALES БАКТЕРИОФАГОВ PSEUDOMONAS AERUGINOSA

Фильчиков М.В., Печникова Е.В., Соколова О.C., Мирошников К.А.

ЭКСПРЕССИРУЕМЫЙ В БАКТЕРИАЛЬНОЙ КЛЕТКЕ СТРУКТУРНЫЙ БЕЛОК (GAG) РЕТРОЭЛЕМЕНТА MДГ4 ФОРМИРУЕТ ДВА РАЗЛИЧНЫХ ТИПА СТРУКТУР

Б.В. Сёмин, О.Г. Леонова, В.И. Попенко, Ю.В. Ильин

ИССЛЕДОВАНИЕ МАЛОГО БЕЛКА ТЕПЛОВОГО ШОКА АЛЬФА-КРИСТАЛЛИНОВОГО ТИПА МИКОПЛАЗМЫ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

И.Е. Вишняков, Е.С. Снигиревская, С.Н. Борхсениус, Я.Ю. Комиссарчик

Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

16:00

Spektronika

Пахневич А.В.

Результаты исследования палеонтологических объектов с помощью рентгеновского микротомографа Skyscan 1172

4 июня, пятница 11.30 – 14.30

Образование нанокристаллов при деформации аморфных сплавов, их морфология и структура

А.С.Аронин, Г.Е.Абросимова, Д.В.Матвеев, О.Г.Рыбченко

ИЗУЧЕНИЕ МОРФОЛОГИЧЕСКИХ ТРАНСФОРМАЦИЙ МЕЗАСТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ (111) ПРИ ТЕРМИЧЕСКОМ ОТЖИГЕ В СВЕРХВЫСОКОМ ВАКУУМЕ

Т. В. Козлова, С. С. Косолобов, А. В. Латышев

О ПРОСТРАНСТВЕННОМ РАЗРЕШЕНИИ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ УПОРЯДОЧЕННЫХ МАТЕРИАЛОВ

В.И. Николайчик, Л.А. Клинкова

СТРУКТУРНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ ПИРОУГЛЕРОДЫХ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

В.Н. Кукин

PHYSICAL PROPERTIES OF HOT WALL DEPOSITED PbS-SnS FILMS

V.S. Syakersky1, U.V. Tsybulski1, V.A. Ukhov1, V.F. Gremenok2, V.A. Ivanov2, D.M. Unuchak3, K. Bente3

ФАЗОВЫЕ, СТРУКТУРНЫЕ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ

ПРЕВРАЩЕНИЯ В ПЛЕНКАХ Ti ПРИ ИМПУЛЬСНОЙ

ФОТОННОЙ ОБРАБОТКЕ НА ВОЗДУХЕ

Е.К. Белоногов, В.М. Иевлев, С.В. Канныкин, С.Б. Кущев

ЭЛЕКТРОННАЯ ТОМОГРАФИЯ И STEM ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ АМОРФНЫХ И НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ CoW-CoNiW ПРИ ВНЕШНЕМ ВОЗДЕЙСТВИИ

О.В. Войтенко, Е.Б. Модин, А.П. Глухов, Е.В. Пустовалов, С.В. Должиков, В.С. Плотников, С.С. Грабчиков, Л.Б. Сосновская

Закрытие конференции

Стендовые сообщения

1 июня, вторник 16.00 – 18.00

Секция I. Электронная микроскопия высокого разрешения и аналитическая электронная микроскопия

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ НАНОЧАСТИЦ СЕРЕБРА ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИЕЙ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ

И.В. Бекетов, Ю.А. Котов, А.И. Медведев, А.М. Мурзакаев, Е.Ю. Соболева

СТРУКТУРА НАНОКОМПОЗИТА 1DCoI2@ОСНТ

А.С. Кумсков, В.Г. Жигалина, Р.М. Закалюкин, А.Л. Васильев, А.А. Елисеев2, А. В. Крестинин

In situ исследование стабильности поликристаллических пленок TiN, при облучении пучком электронов с энергией 350 кэВ

М.А. Неклюдова, А.К. Гутаковский, Л.И. Федина, Т.И.Батурина

1 июня, вторник 16.00 – 18.00

Секция II. Микроскопия наноструктур

Hut-КЛАСТЕРЫ Ge В МАССИВАХ, ФОРМИРУЕМЫХ НА ПОВЕРХНОСТИ Si(001) МЕТОДОМ МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВОЙ ЭПИТАКСИИ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ

Л.В.Арапкина, В.А.Юрьев

Просвечивающая электронная микроскопия в исследованиях Нанопорошков диоксида циркония

А.В. Багазеев, Ю.А. Котов, А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова, А. Юшков

Просвечивающая электронная микроскопия в исследованиях Нанопорошков Пермаллоя

И.В. Бекетов, А.М. Мурзакаев, Ю.А. Котов, А.И. Медведев, О.Р. Тимошенкова, Т.М. Демина

ПОЛУЧЕНИЕ НАНОКОМПОЗИТА CNT/SnOX НА ОСНОВЕ СЛОЕВ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК

В.В.Болотов, В.Е. Кан, Е.В. Князев, С.Н.Несов, В.Е.Росликов, Ю.А.Стенькин, Р.В.Шелягин, Гаврилова Т.А.

ФОРМИРОВАНИЕ СЛОЕВ НАНОКОМПОЗИТА porSi/SnOX

В.В.Болотов, В.Е. Кан, Е.В.Князев, С.Н.Несов, В.Е.Росликов, Ю.А.Стенькин, Р.В.Шелягин, А.Г. Черков*, П.М.Корусенко

МОРФОЛОГИЯ СЕЛЕНСОДЕРЖАЩИХ НАНОСТРУКТУР НА ОСНОВЕ ПОЛИМЕТАКРИЛОВОЙ КИСЛОТЫ

С.В. Валуева, М.Э. Вылегжанина, Л.Н. Боровикова, Т.Е. Суханова

ВЛИЯНИЕ УСЛОВИЙ ПОЛУЧЕНИЯ НА МОРФОЛОГИЮ И ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КОМПОЗИТОВ НА ОСНОВЕ ПОЛИАМИДОИМИДА И ГИДРОСИЛИКАТНЫХ НАНОТРУБОК

Г.Н. Губанова, М.Э. Вылегжанина, С.В. Кононова, Т.Е. Суханова

Анализ размеров частиц порошка нанокристаллического кремния, синтезированного плазмохимическим и лазер-но-химическим способами, методом просвечивающей электронной микроскопии

Дорофеев С.Г., Кононов Н.Н., Зайцева К.В., Ищенко А.А., Авилов А.С.

ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОКОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ ПОЛИЭТИЛЕНА И ТЕРМОРАСШИРЕННОГО ГРАФИТА

А.Н. Жигач, Н.Г. Березкина, И.О. Лейпунский, П.Н. Бревнов, Л.А.Новокшонова, И.А.Чмутин, В.В.Артемов

ВЛИЯНИЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ НАНОДИСПЕРСНЫХ ФЕРРИТОВЫХ ПОРОШКОВ НА ИХ СТРУКТУРУ И МАГНИТНЫЕ СВОЙСТВА

Н.А.Запорина, Я. П.Грабис, М.М.Майоров , Г.М.Хейдемане

ФОРМИРОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРНЫХ ПЛЕНОК БОРИДОВ, НИТРИДОВ И СИЛИЦИДОВ НА ОСНОВЕ ПЕРЕХОДНЫХ МЕТАЛЛОВ

П.И.Игнатенко, Д.Н.Терпий

Морфология и структура наноразмерных анизотропных порошков ферромагнитных металлов.

В.И.Кулинич, Е.И.Бубликов, А.Ю.Изварин, И.В.Белкин.

Исследование морфологии поверхности наноформ КАРБОНИТРИДА БОРА МЕТОДОМ РЭМ и АСМ

Е.А.Максимовский, М.Л. Косинова, С.А. Прохорова,

Б.М. Аюпов, П.Н. Гевко, Ю.М. Румянцев

Характеризация нанокристаллических пленок TiCN

Максимовский Е.А., Файнер Н.И., Румянцев Ю.М., Косинова М.Л., Кеслер В.Г.

ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ВЫСУШИВАНИЯ НАНОЧАСТИЦ ГИДРОКСИДА ЖЕЛЕЗА НА ИХ РАЗМЕРЫ И МОРФОЛОГИЮ.

А.А. Новакова, А.Р. Савилов, И.И. Пузик, В.В. Левина

ИССЛЕДОВАНИЕ структуры наноалмазных порошков и ЛУКОВИЧНООБРАЗНЫХ УГЛЕРОДНЫХ НАНОЧАСТИЦ

В.А.Попов, И.И.Ходос, М.Н.Ковальчук, В.А.Зайцев В.В.Роддатис

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДРОБНОЙ РАЗМЕРНОСТИ ФРАКТАЛЬНЫХ СТРУКТУР ПО ДАННЫМ ЭЛЕКТРОННОЙ И АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

В.С. Фантиков, Л.Ю. Аммон, В.А. Жабрев, В.И. Марголин

2 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00

Секция III. Приборы и электронная оптика

Разработка методов детектирования сигналов для электрон-оптического in-situ мониторинга периодических структур

М.Ю. Барабаненков, В. В. Казьмирук, Т. Н. Савицкая.

ТЕСТ-ОБЪЕКТ МШПС-2.0К В ПРОСВЕЧИВАЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ

А.Л. Васильев, В.Б. Митюхляев, Ю.А. Новиков,

Ю.В.Озерин, А.В. Раков, П.А. Тодуа

ВЛИЯНИЕ СПИН-ПОЛЯРИЗАЦИИ МАГНИТНЫХ МОМЕНТОВ ЭЛЕКТРОНОВ НА ФОРМИРОВАНИЕ КРОССОВЕРА

Б.Н.Васичев, Г.И.Фатьянова

НЕЛИНЕЙНЫЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМАХ

Б.Н.Васичев, Г.И.Фатьянова

ПРИМЕНЕНИЕ СИСТЕМЫ С ФОКУСИРОВАННЫМ ИОННЫМ ПУЧКОМ FEI FIB 200 ДЛЯ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин

НАНОРАЗМЕРНЫЕ СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ НА БАЗЕ ТРЕКОВЫХ ПОЛИМЕРНЫХ МЕМБРАН

И.Г. Григоров, С.В. Борисов, Е.В. Поляков, О.В.Шепатковский,

Н.А. Хлебников, Л.Н. Ромашев, Б.А. Логинов, Ю.Г. Зайнулин,

Г.П. Швейкин

Взаимодействие электронного пучка с полем кристаллической решётки и представления волновой оптики

Т.А. Гришина, О.Д. Потапкин, В.Ю. Гришина, А.А. Мельников

Мареев А.А.

ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ И ФИЛЬТРАЦИЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ НАНОСТРУКТУР

Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, А.В. Кириллов, Н.А. Смольянинов, О.В. Войтенко, Е.Б. Модин

Восстановление катода LaB6 для электронного микроскопа
с помощью фокусированного ионного пучка

Ю.А. Дёмин, М.А. Кузнецова, А.Ю. Савенко, А.В. Сорокин

оптимизация режимов регистрации вторично-эмиссионных сигналоВ при 2d-метрологии наноструктур

Н.Н. Дремова, В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

КАЛИБРОВКА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ДАТЧИКОВ НАНОПЕРЕМЕЩЕНИЙ СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ

Ж.Е. Желкобаев, В.В. Календин, А.Ю.Кузин, П.А.Тодуа, Ю.В.Чихалов

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДИСПЕРГАТОР ДЛЯ ПРЕПАРИРОВАНИЯ ОБЪЕКТОВ В ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ПОЛИМЕРОВ

В.Ю. Жовклый, А.И. Чемерис, А.Г. Филатова, И.И. Чемерис,

К.З. Гумаргалиева, Т.В. Волкова, Е.М. Белавцева

МОДЕЛИРОВАНИЕ ОБЪЕКТИВА МАЛОГАБАРИТНОГО РЭМ

В.Ф.Истов, В.Ф.Диано, Б.Н. Васичев

Разработка формирующей линзы для низковольтных электронно-зондовых систем высокого разрешения

В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

МИКРОСКОП НА ИОНАХ КСЕНОНА ДЛЯ НАНОМОДИФИКАЦИИ И АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ

З. Калбитцер, В.А.Жуков

МЕТОДИКА ПРИГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ МАТЕРИАЛОВ НЕУСТОЙЧИВЫХ НА ВОЗДУХЕ

М.Н. Ковальчук, В.И. Николайчик, М.А. Запорожец

О преобразовании функций плотности в задачах линейной электронной оптики

Ю.В. Куликов, Д.А. Широков

ОПРЕДЕЛЕНИЕ НАРУШЕННОГО СЛОЯ В ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ИОНАМИ ГАЛЛИЯ

А.И.Мартынов, В.Б.Митюхляев, А.Ю.Озерин, П.А.Тодуа

Рентгеновский спектрометр с неохлаждаемым полупроводниковым детектором на основе монокристаллов

тройных твердых растворов Cd1-xZnxTe

А.А. Мельников, О.А. Мельников, О.Д. Потапкин

ТЕСТ-ОБЪЕКТЫ ДЛЯ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ

НА РЭМ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ МИКРОСХЕМ

В НАНОМЕТРОВОЙ ОБЛАСТИ

Ю.А. Новиков, А.В. Раков, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов

энергетическое распределение вторичных электронов В сканирующем ионном гелиевом микроскопе.

Ю.В. Петров, О.Ф. Вывенко.

Лоренцева микроскопия в исследовании особенностей микромагнитного разбиения аморфных и нанокристаллических сплавов переходной металл-редкоземельный металл, переходной металл-металлоид

В.С. Плотников, А.П. Глухов, Б.Н. Грудин, Е.В. Пустовалов, И.С. Смирнов, А.В. Кириллов, С.В. Должиков

ЗАВИСИМОСТЬ КОЭФФИЦИЕНТА СБОРА РЭМ ОТ ГЕОМЕТРИИ ПРОСТРАНСТВА ПОД ЛИНЗОЙ
О.Д.Потапкин, А.А.Мельников, О.А.Мельников, В.П Кононов.

КАТОДНАЯ ЛИНЗА “ИГЛА НАД ПЛОСКОСТЬЮ” И ЕЁ ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА

О.Д.Потапкин, А.В.Андреев

НОВЫЙ МЕТОД ТРЕХМЕРНОЙ РЕКОНСТРУКЦИИ НАНО- И МИКРОРЕЛЬЕФА ПО СЕРИЯМ РАЗНОФОКУСНЫХ РЭМ-СТЕРЕОИЗОБРАЖЕНИЙ

В.Н. Соколов, О.В. Разгулина, Д.И. Юрковец, М.С. Чернов

2 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00

Секция IV. Растровая электронная микроскопия

Создание и изучение свойств индивидуальных точечных эмиттеров на микроскопе Quanta 200 3D

В.В. Артемов, А. А. Елисеев, Л.Н.Демьянец

АНАЛИЗ ФАЗОВОГО СОСТАВА ОТОЖЖЕННЫХ ПЛЕНОК

ОЛОВО-ФУЛЛЕРЕН МЕТОДОМ EBSD

Л.В. Баран

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА ПЛАТИНОВОГО БАЗОВОГО ЭЛЕКТРОДА ДЛЯ ОСАЖДЕНИЯ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК PZT НА КРЕМНИЕВЫЕ ПОДЛОЖКИ

В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, В.А. Марченко

ИССЛЕДОВАНИЯ Структуры и электрических свойств лент кремния методами РЭМ

С.К. Брантов, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ ВОЛЬФРАМОВОЙ ПРОВОЛОКИ И СПИРАЛЕЙ.

Г.С. Бурханов, В.М. Кириллова, В.В. Сдобырев, В.А.Кузьмищев,

В.А. Дементьев

ИЗМЕРЕНИЕ НА РЭМ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ РЕЗИСТОВЫХ

МАСОК С ШИРИНОЙ ЛИНИИ ДО 30 НМ

К.А. Валиев, В.П. Гавриленко, Е.Н. Жихарев, В.А. Кальнов,

Ю.А. Новиков, А.А. Орликовский, А.В. Раков, П.А. Тодуа

ЗЕРЕННАЯ СТРУКТУРА БЫСТРОЗАТВЕРДЕВШИХ ФОЛЬГ ИНДИЯ И ЕГО СПЛАВОВ С ЦИНКОМ И СУРЬМОЙ

Ван Цзинцзе, С.В. Гусакова,В.Г. Шепелевич

Исследование электрических и люминесцентных характеристик пленок AlGaN с азотной и галлиевой полярностью, выращенных методом молекулярной эпитаксии

А.В. Говорков, А.Я. Поляков, Н.Б. Смирнов, К.С. Журавлев, В.Г. Мансуров2, Д.Ю. Протасов2

Исследование зависимости энергии отраженных электронов от угла их выхода.

А.В. Гостев, С.А. Дицман, В.Г. Дюков,

Е.С. Иванова, Ф.А. Лукьянов, Э.И. Рау, Р.А.Сеннов

ИССЛЕДОВАНИЕ ЗЕРЕННОЙ СТРУКТУРЫ ОЛОВА МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ (EBSD)

О.В. Гусакова, В.Г. Шепелевич

ЛОКАЛЬНАЯ ДИАГНОСТИКА ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР HgCdTe С БУФЕРНЫМИ СЛОЯМИ ZnTe И CdTe

С.А. Дворецкий, Ю.Н. Долганин, В.В. Карпов, Н.Н. Михайлов, Н.Н. Михеев, А.А. Муханова, А.Н. Поляков, М.А. Степович

ИССЛЕДОВАНИЕ В РЭМ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ ФТОРИДОВ, АКТИВИРОВАННЫХ ИОНАМИ РЕДКИХ ЗЕМЕЛЬ

К.М.Девяткова, Л.И.Девяткова, В.Б.Тверской

УТОЧНЕНИЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЙ О МЕХАНИЗМЕ ЗАРЯДКИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МИШЕНЕЙ

Е.Н. Евстафьева, Э. И. Рау, Р.А. Сеннов, А.А. Татаринцев, Б.Г. Фрейнкман

Электронно-индуцированный потенциал в РЭМ. Особенности изучения электрической активности протяженных дефектов в Si

В.Г. Еременко, Н.А. Орликовский, Э.И. Рау

Прямое измерение диаметра и распределения плотности тока в кроссовере электронного зонда.

С.И. Зайцев, Н.А. Кошев, Ф.А. Лукьянов, Э.И. Рау, Е.Б. Якимов

ИССЛЕДОВАНИЕ В РЭМ ПРОЦЕССА НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОГО СПЕКАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ МОЩНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С ПОМОЩЬЮ НАНОЧАСТИЦ СЕРЕБРА.



Скачать документ

Похожие документы:

  1. Пресс-служба фракции «Единая Россия» Госдума РФ (88)

    Документ
    01. 00 , Гарин Петр, 14:00 1 МАЯК, НОВОСТИ, 5.01. 00 , Максимова Евгения, 15:00 1 МАЯК, НОВОСТИ, 5.01.
  2. Тема: все новости Мониторинг и анализ сми в городе Киров Дата: 10. 04. 2011

    Документ
    но не всем хочется 17 Киселев ушел к эсерам 17 Бучнев уезжает в Марий-Эл 18 Концы в воду 18 Кто поверит полиграфу? 0 КОРОТКО О ВАЖНОМ 1 Весенняя премьера в «Гротеске» 1 «Я родила 8 марта» Теперь прогресс неотвратим 3 Вятка размывает
  3. Новости 14 (1)

    Документ
    07. 009, 18:00 17 Пятый канал, 03.07. 009, 1 :30 18 Пятый канал, 03.07. 009, 15:30 19 Пятый канал, 03.07. 009, 19:30 0 Россия, 03.07.
  4. Информационный бюллетень Администрации Санкт-Петербурга №15 (666), 26 апреля 2010 г

    Информационный бюллетень
    12.00 Митинг и возложение цветов к памятнику «Жертвам радиационных аварий и катастроф» в парке имени академика А. Д. Сахарова (пересечение пр. Маршала Блюхера и Пискаревского пр.
  5. После того, как я был избран на пост президента России, несколько крупных издательств обратились ко мне с просьбой продолжить воспоминания

    Документ
    После того, как я был избран на пост президента России, несколько крупных издательств обратились ко мне с просьбой продолжить воспоминания. Я всегда считал, что действующий политик не должен заниматься мемуарами, для этого существуют

Другие похожие документы..