Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

'Реферат'
Прогноз социально-экономического развития Котельниковского муниципального района Волгоградской области на 2012 год и плановый период 2013 и 2014 годов...полностью>>
'Учебно-методическое пособие'
Управление сельскохозяйственным производством: учебно-методическое пособие. Для студентов агрономического факультета всех форм обучения / Е.И. Валедо...полностью>>
'Лекция'
Специфика решаемых с помощью ИС задач, различная сложность их создания, модификации, сопровождения, интеграции с другими ИС и т.п., позволяют раздели...полностью>>
'Доклад'
«Развитие альтернативных видов массового пассажирского внеуличного транспорта как один из способов реорганизации сложившейся радиально-кольцевой тран...полностью>>

Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел рэм 2011

Главная > Программа
Сохрани ссылку в одной из сетей:

Научный совет РАН по электронной микроскопии

Учреждение российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

Учреждение российской академии наук институт кристаллографии им. А.в. Шубникова РАН

ПРОГРАММА

XVII РОССИЙСКОГО симпозиумА

по растровой электронной микроскопии

и аналитическим методам исследования твердых тел

РЭМ - 2011

г. Черноголовка, 30 мая – 3 июня 2011г.

Москва 2011

Организационный комитет:

Н.А. Киселев

М.В. Ковальчук

В.А. Тулин.

В.В. Казьмирук.

В.М. Каневский.

Н.П. Гольцова.

- сопредседатель

- сопредседатель

- сопредседатель

- заместитель председателя

- заместитель председателя

- секретарь

С.А. Дицман.

Л.А. Казьмирук

Н.А. Осипов

В.Л. Раевский.

А.А. Саранин.

А.Л. Толстихина.

Е.Б. Якимов.

Программный комитет:

Е.Б. Якимов

С.А. Дицман

Н.П. Гольцова

В.В. Артемов

А.Л. Васильев

Н.А. Киселев

В.И. Попенко

- председатель

- заместитель председателя

- секретарь

Р.В. Гайнутдинов

В.Н. Соколов

А.Л. Толстихина

В.А. Штейн-Марголина

Э.И. Рау

На Симпозиуме будут работать секции:

I. Приборы и электронная оптика

II. Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава

III. Сканирующая зондовая микроскопия

IV. Наноструктуры и нанотехнологии

V. Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике

VI. Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии

VII. Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

31 мая, вторник Утро 10.00 – 14.00

Открытие конференции

Вступительное слово: Киселев Н.А.

Тулин В.А.

Пленарные доклады

А.Л. Васильев, В.В. Роддатис

Растровая просвечивающая электронная микроскопия
высокого разрешения наноматериалов
30 мин.

А.А. Саранин, А.В. Зотов, Д.В. Грузнев

Сканирующая туннельная микроскопия
с временным разрешением
30 мин.

Sergei Magonov

Studits of materials in different environments
with atomic force microscopy
30 мин.

Перерыв

Н.А. Орликовский, Э.И. Рау

О контрасте изображений в режиме
отраженных электронов в РЭМ
30 мин.

А.Н. Титков, М.С. Дунаевский, П.А. Алексеев

АСМ / ЕСМ исследования влияния поверхностных состояний
на проводимость.нитевидных кристаллов GaAs
30 мин.


Е.Б. Якимов

Исследование полупроводниковых структур современной микроэлектроники методами РЭМ 30 мин.

Обед 14.00 – 15.00

Вечер 15.00 – 18.00

Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

Устные доклады

1 июня, среда Утро 9.30 – 14.00

П.С. Дорожкин, А.А. Щекин, Е.В. Кузнецов, С.В. Тимофеев, В.А. Быков

Сканирующая зондовая микроскопия в комбинации с микроскопией комбинационного рассеяния: применения при изучении современных наноматериалов 20 мин.

А.А. Романец, В.Р. Новак

Метод выделения характерных областей, занимаемыми локальными выпуклыми объектами на СЗМ изображениях 20 мин.

Д.В. Лебедев, А.П. Чукланов, Н.И. Нургазизов, Д.А. Бизяев,

А.А. Бухараев

Сканирующая зондовая микроскопия наночастиц, полученных отжигом металлических пленок, осажденных в сверхвысоком вакууме на поверхность пиролитического графита 20 мин.

С.О. Абетковская, С.А.Чижик, И.В. Погоцкая, З. Римуза, Д. Яжабек,
М. Михаловски, Я. Линке

Определение модуля упругости покрытий наноразмерной
толщины для МЭМС по результатам статической силовой спектроскопии
20 мин.

Перерыв

В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

Низковольтная система для 2D мониторинга шаблонов
для импринт-литографии
20 мин.

М.В. Григорьев, Д.В. Иржак, Р.Р. Фахртдинов, Д.В. Рощупкин,

О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов

Реализация метода тока, индуцированного сфокусированным рентгеновским пучком, на лабораторном источнике 20 мин.

John Maddock

EBSD in difficult circumstances 20 мин.

Marziale Milani, C. Savoia, F. Tatti

Charged Particle Mirroring in scanning (FIB/SEM) microscopes 20 мин.

В.Я. Шкловер

Новые приборные и методические решения в растровой электронной микроскопии 20 мин.

Обед 14.00 – 15.00

Обед для секции VII 13.00 – 14.00

Вечер 14.00 – 16.00

Т.Е. Суханова, М.Л. Гельфанд

Электронная и атомно-силовая микроскопия в исследовании наносистем для фотодинамической терапии онкологических заболеваний 20 мин.

А.Н. Горшков, Н.М. Грефнер, Я.Ю. Комиссарчик

Анализ механизмов транспорта воды и сахаров клетками
MDCK и CACO2 с помощью конфокальной и электронной микроскопии
20 мин.

Л.В. Диденко, Г.А. Автандилов, M. Milani

Метод сканирующей электронной микроскопии для оценки биодеструкции материалов медицинского назначения 20 мин.

В.Я. Шкловер, Е.Д. Бедошвили, П.Р. Казанский, Е.В. Лихошвай

3D – реконструкция внутриклеточных структур диатомовой водоросли Synedra acus с использованием системы
DUAL BEAM FIB/SEM QUANTA 3D FEG
20 мин.

Вечер 16.00 – 18.00

Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

2 июня, четверг Утро 9.30 – 14.00

П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Б. Якимов

Исследование влияния облучения низкоэнергетичными электронами в РЭМ на наведенный ток и катодолюминесценцию
в гетероструктурах на основе ingan/gan
20 мин.


В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, Д.В. Иржак, В.А. Марченко,

В.И. Николайчик, Л.А. Фомин

Особенности эпитаксии пленок иридия на Si(100) с буферными слоями YSZ и CeO2/YSZ 20 мин.


А.А. Михуткин, И.А. Каратеев, Е.А. Кудренко, В.В. Роддатис,

А.Л. Васильев

Трехмерная реконструкция объектов методом растровой электронно-ионной микроскопии 20 мин.

Ю.Я. Томашпольский, Н.В. Садовская, Н.В. Козлова, Г.А. Григорьева

Термостимулированная поверхностная автосегрегация (ТПАС)
в ионных кристаллах: РЭМ, РСМА, ОЭС, КМС, АСМ, ИКС
20 мин.

Перерыв

А.М. Чапланов, С.И. Багаев, Н.М. Чекан, И.Г. Милашевская,

А.Н. Малышко, I. Vavra, Д.В. Жигулин

Получение нанотрубок диоксида титана 20 мин.

В.В. Артемов, М.В. Горкунов, С.П. Палто

Изготовление серебряных наноструктур – метаматериалов методом ионной литографии на установке Quanta 200 3D
и Quanta 3D FEG
20 мин.

К.С. Максимов, С.К. Максимов

Растровая микроскопия в нанотехнологиях 20 мин.

А.С. Орехов, Ф.Ю. Соломкин, Е.И. Суворова

Исследование структуры легированных кристаллов высшего силицида марганца методами сканирующей электронной микроскопии, микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов 20 мин.

Закрытие Симпозиума

Стендовые сообщения

31 мая, вторник Вечер 16.00 – 18.00

Секция II. Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава

В.Г. Бешенков, А.П. Дементьев, К.И. Маслаков

Анализ угловой зависимости выхода оже-электронов в графите методом главных компонент

А.Н. Бузынин, Ю.Н. Бузынин, Б.Н. Звонков, T. Pezeril, G. Vaudel,

P. Ruello, M. Edely, D. Mounier, J-M. Breteau, V. Gusev

Получение и исследование гетероструктур «диэлектрик-металл-полупроводник» для оптоакустических приборов

А.Н. Бузынин, В.П. Калинушкин, О.В. Уваров, Э.И. Рау, С.А. Дицман,

Ф.А. Лукьянов, В.И. Золотарев

Исследование характеристик фоточувствительных элементов матриц фотоприемников на основе Si Pt:Si методом наведенного потенциала и просвечивающей электронной микроскопии.


П.С. Вергелес, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов

Влияние металлических примесей на контраст протяженных дефектов в режиме наведенного тока

А.В. Говорков, А.Я. Поляков, Н.Б. Смирнов, S.J. Pearton

Электрические характеристики, спектры глубоких уровней и спектры микрокатодолюминесценции нелегированных объемных кристаллов

n-GaN, полученных методом хлорид-гидридной эпитаксии

А.В. Гостев, С.А. Дицман, Н.А. Орликовский, Э.И. Рау, Р.А. Сеннов

Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней

А.В. Гостев, С.А. Дицман, Е.Н. Евстафьева, Н.А. Орликовский,

Э.И. Рау, Р.А. Сеннов

Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ

К.М. Девяткова, Л.И. Девяткова, В.Б. Тверской

Исследование фторидных моноклинных кристаллов в РЭМ


Л.А. Евсеев, В.Д. Рисованый

Исследования структуры и изотопного состава микрообластей облученного карбида бора методами РЭМ и ВИМС


В.Г. Еременко

ПЭМ исследования особенностей дислокационной структуры Si, пластически деформированного вблизи перехода пластичность-хрупкость


В.Г. Еременко, П.С. Вергелес

Микропластическая деформация кремния. Особенности дислокационной структуры и электрические свойства

П.В. Иванников, А.Р. Чепелюк, А.В. Кузьменков, А.И. Габельченко

Измерение электрических параметров в растровом электронном микроскопе

В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая

Изучение формирования контраста от топологических элементов структур


О.В. Кононенко, С.И. Божко, Е.В. Емелин, А.И. Ильин, В.Т. Волков,

Н.А. Баранов

Исследование транспортных свойств наностержней оксида цинка в сканирующем зондовом микроскопе


Л.С. Коханчик, Т.Р. Волк

Влияние примесей в кристаллах ниобата лития на процессы доменообразования при облучении электронами в РЭМ


Л.С. Коханчик, M.Н. Палатников, О.Б. Щербина

Формирование сегнетоэлектрических доменов в стехиометрических кристаллах ниобата лития методом прямого электронно-лучевого облучения


А.В. Кузьменков, П.В. Иванников, А.И. Габельченко

Изучение механизмов электрического пробоя диэлектриков диодов в РЭМ

А.Г. Масловская, А.В. Сивунов, Т.К. Барабаш

Моделирование индуцированной электронным зондом зарядки сегнетоэлектрических материалов в инжекционном режиме

Н.Н. Михеев, М.А. Степович, Е.В. Широкова

Учет матричных эффектов при локальном электронно-зондовом анализе с использованием новой модели распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения

Д.Е. Николичев, А.В. Боряков, С.Ю. Зубков, Е.С. Демидов,

В.П. Лесников, В.В. Подольский, С.А. Левчук

Состав и топография тонких пленок сплава Гейслера

Л.А. Павлова, С.М. Пещерова, А.И. Непомнящих

Особенности кристаллов солнечного кремния, изучаемых методами растровой электронной микроскопии и электронно-зондового рентгеноспектрального анализа

Ю.В. Петров, А.С. Бондаренко, А.П. Барабан, К.А. Тимофеева

Центры люминесценции, индуцированные

электронным пучком СЭМ в структурах кремний-двуокись кремния

А.Н. Поляков, М. Noltemeyer, T. Hempel, J. Christen, М.А. Степович

Времяпролетные катодолюминесцентные исследования диффузии экситонов в монокристаллическом нитриде галлия

Э.И. Рау, А.А. Татаринцев

О взаимосвязи основных параметров зарядки массивных и пленочных диэлектриков при электронном облучении

А.В. Свиридов, П.В. Иванников, А.И. Габельченко

Повышение точности метода трехмерной катодолюминесцентной нанотомографии в растровом электронном микроскопе

Е.В. Серегина, А.М. Макаренков, М.А. Степович

Сравнительный анализ применения моделей независимых источников и коллективного движения для нахождения распределения неосновных носителей заряда в однородном полупроводнике

А.А. Федотов, М.Н. Сафонова

Использование микроскопического анализа для исследования структуры композиционных материалов

О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов

Исследование методами РЭМ влияния переходных металлов на электрические свойства лент кремния для солнечных элементов

М.В. Чукичев, В.В. Привезенцев, B.В. Колташев, В.Г. Плотниченко

Исследование свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированном цинком, после термических отжигов

31 мая, вторник Вечер 16.00 – 18.00


Секция IV. Наноструктуры и нанотехнологии

В.В. Акимов, И.Н. Герасимов, Н.В. Смагунов, И.Ю. Пархоменко

Исследование образования микро- и наноразмерных поверхностных фаз на монокристаллах минералов

Е.М. Белавцева, Н.В. Черкун, Н.В. Сергиенко, О.А. Белякова,

Я.В. Зубавичус, Б.Г. Завин

Исследование структуры нанокомпозитов, полученных разложением металлосилоксанов в полимерных матрицах

Н.Д. Васильева, М.Ю. Пресняков, А.И. Попов, М.Л. Шупегин

Электронно - микроскопические исследования вхождения металла в пленки кремний - углеродных нанокомпозитов


О.В. Войтенко, Е.Б. Модин, И.С. Смирнов, Е.В. Пустовалов,

Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, С.С. Грабчиков, Л.Б. Сосновская

STEM исследования структуры аморфных и нанокристаллических сплавов систем CoW-CoNiW и CoP-CoNiP при термическом воздействии

А.О. Волхонский, И.В. Блинков, Н.В. Швындина, Е.А. Скрылева

Термическая стабильность мультислойных покрытий с наноразмерными слоями


А.П. Глухов, Е.Б. Модин, О.В. Войтенко, В.С. Плотников,

А.С. Заиченко, Н.Б. Кондриков

РЭМ исследование микроструктуры наноструктурированного оксида титана

В.М. Грабов, Е.В. Демидов, Н.И. Киселева, В.А. Комаров,

Е.В. Константинов

АСМ исследование мелкоблочных пленок висмута, полученных термическим напылением на нанокластеры висмута

Г.Н. Губанова, Г.Б. Мельникова, С.В. Кононова, Т.Е. Суханова,

С.А. Чижик

Исследование поверхности нанокомпозитов для первапорационных мембран на основе термостойкого полиимда методами АСМ и РЭМ

С.А. Гусев, Н.С. Гусев, М.В. Сапожников, Е.В. Скороходов

Формирование и свойства металлических наноструктур

С.А. Гусев, Е.В. Скороходов

Диагностика магнитных состояний Cо наноструктур


О.В. Кононенко, В.Н. Матвеев, В.Т. Волков, В.И. Левашов,

О.О. Капитанова, И.И. Ходос

Исследование пленок графена, синтезированного методом однократного напуска ацетилена, в просвечивающем микроскопе высокого разрешения и рамановском микроскопе

В.А. Попов, В.А. Зайцев, И.И. Ходос, М.Н. Ковальчук, Д.В. Матвеев

Применение наноалмазов для упрочнения алюминиевой матрицы

О.Р. Тимошенкова, В.Р. Хрустов, А.М. Мурзакаев

Исслледование методами электронной микроскопии влияния предыстории нанопоршков диоксида циркония стабилизированного скандием на спекание керамик

В.В. Цыбульский, А.Н. Петлицкий, С.В. Шведов, Л.А. Власукова,

Ф.Ф. Комаров

Новый нанопористый материал на основе аморфного диоксида кремния

1 июня, среда Утро 10.00-13.00

Секция VII. Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии

K.O. Hovnanyan, Ch.A. Sargsyan, N.L. Hovnanyan, K.A. Trchunian, L.H. Navasardyan, S.V. Marutyan

Correlative Imaging Analysis by Electron Microscopy (sem, tem) of Planktonic and Biofilm forms to Bacteria and Yeast

Г.А. Автандилов, Л.В. Диденко, Т.А. Смирнова, Н.В. Шевлягина,

Н.М. Шустрова, M. Milani, F. Tatti, И.Ю. Лебеденко,

Метод сканирующей электронной микроскопии для оценки процесса микробной биодеструкции металлических сплавов и полимерных материалов

В.Е. Андреева

Применение методов электронной микроскопии для исследования осадков в винах

В.А. Антипина, Г.Л. Коломейцева, А.С. Рябченко, А.В. Бабоша

Сравнительный анализ семян эпифитных и наземных орхидей из рода Paphiopedilum Pfitz

М.М. Астафьева, Л.В. Зайцева, А.Ю. Розанов, В. Злобин, М.М. Богина

Изучение ископаемых пленок и коккоидных образований в туфах (Мончегорский район Кольского п-ова, возраст 2,3-2,4 млн. лет) методами СЭМ и РСМА

А.И. Байбеков, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия аспиратов, используемых при липофилинге в эстетической хирургии

И.М. Байбеков, Д.Т. Пулатов, А.Х. Бутаев

Сканирующая электронная микроскопия хронических дуоденальных язв

О.Д. Бекасова, И.В. Сафенкова, П.И. Мисуркин, А.Л. Русанов,

Н.А. Чеботарева, В.В. Шубин, Б.И. Курганов

Новые свойства квантовых точек сульфида кадмия, включенных в белковую матрицу

И.В. Бобров, В.И. Суворов, В.Ю. Линно

Микроскопические исследования изменений пористой структуры древесной матрицы сосны в процессе пиролиза

А.Х. Бутаев

Сканирующая электронная микроскопия эритроцитов при миастении и её хирургическом лечении с использованием лазеротерапии

О.Н. Вишневская, Д.В. Бурдин, Н.М. Грефнер, А.Н. Горшков

Протамин и холерный токсин изменяют экспрессию белков плотных контактов в эпителиальных клеточных линиях

Л.Ф. Волощук

Опыт применения растровой электронной микроскопии для контроля качества биологических препаратов

Б.В. Втюрин, И.А. Чекмарева

Растровая электронная микроскопия мембраны эритроцитов и их конфигурации при ожоговой болезни

В.Е. Голованова, М.Ю. Гущин, Т.Г. Бархина, С.А. Польнер

Использование СЭМ при изучении эпителиальных клеток дыхательных путей

А.Н. Горшков, Я.Ю. Комиссарчик

Структурно-функциональный анализ монослоя культурных клеток – модели собирательных трубок почки

Е.Н. Горшкова, С.Н. Плескова, Э.Р. Михеева

Атомно-силовая микроскопия для исследования изменений в морфологии нейтрофилов под воздействием вносимых наноразмерных флуорофоров

Н.М. Грефнер, Л.В. Громова, А.А. Груздков, Я.Ю. Комиссарчик

Исследование структурных изменений элементов цитоскелета при всасывании гексоз в энтероцитах и клетках Сасо2

Е.С. Дрозд, С.А. Чижик

Клеточная эластография как метод оценки упругих свойств клеток с помощью атомно-силового микроскопа

А.Л. Дроздов, А.А. Карпенко

Изучение организация спикул стеклянных губок методами растровой микроскопии

П.С. Ерохин, О.С. Кузнецов, Н.А. Видяева, Н.П. Коннов

Использование атомно-силовой микроскопии для исследования экстрацеллюлярной матриксной оболочки (ЭМО) возбудителя чумы

Е.А. Жегалло, Л.В. Зайцева, В.К. Орлеанский

Биологические контаминации в осадочных горных породах

А.Ф. Ибрагимов, И.М. Байбеков

Сканирующая электронная микроскопия кожных элементов и эритроцитов крови при некоторых дерматозах

П.Е. Каракозов, А.Х. Бутаев, Б.К. Ибадов

Изучение взаимодействие шовного материала и биологических тканей с помощью сканирующей электронной микроскопии

П.Е. Каракозов, А.Х. Бутаев, Н.А. Стрижков, Б.К. Ибадов

Ультраструктура шовного материала, используемого в хирургии

Е.В. Киселева

Высокоразрешающая иммуно-гистохимия на нано-структурах ядра и цитоплазмы в сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии

О.А. Коновалова, Н.В. Калачева, В.А. Миронов, М.Х. Салахов

Изучение влияния РНКазы Bacillus Intermedius и токсичных доз H2O2 на апоптоз макрофагов методами АСМ и оптической микроскопии

Е.А. Кост, Л.В. Диденко, Н.А. Зигангирова

Новые методические возможности в изучении культуры клеток с помощью растрового ионно-электронного микроскопа guanta 200 3d

А.Ф. Крахмальный

Применение СЭМ для идентификации видов рода Protoperidinium

М.А. Крахмальный, В.Д. Коновалюк

Микроморфология гименофора Pleurotus eryngii (Dc: Fr.) Quel

Т.Х. Кумахова

Ультраскульптура поверхности зрелых плодов некоторых высокогорных представителей подсемейства MALOIDEAE

О.Г. Леонова, Б.П. Караджян, Ю.Л. Иванова, Ю.Ф. Ивлев,

В.И. Попенко

Пространственное распределение сайтов репликации и структурная организация хроматина в соматических ядрах инфузорий

Э.Р. Михеева, С.Н, Плескова, Е.Н. Горшкова

Применение атомно-силовой микроскопии для оценки изменения упругости мембран нейтрофильных гранулоцитов под воздействием квантовых точек

Я.Р. Мусинова, Е.Ю. Кананыхина, О.М. Лисицына, Е.В. Шеваль

Количественный анализ выраженности действия естественных и искусственных сигналов ядрышковой локализации


С.В. Надеждин, Е.В. Зубарева, Н.А. Павлов



Скачать документ

Похожие документы:

  1. И региональных научных и научно-технических совещаний, конференций, симпозиумов, съездов, семинаров и школ в области естественных и общественных наук на 2011 г

    Семинар
    Информационный Перечень международных, всероссийских и региональных научных и научно-технических совещаний, конференций, симпозиумов, съездов, семинаров и школ в области естественных и общественных наук на 2011 г.
  2. Министерство образования и науки Российской Федерации (10)

    Документ
    Сводные данные международных мероприятий в области образования, науки и инноваций издаются в виде брошюр с 1986 г. и рассылаются по министерствам, ведомствам и организациям, федеральным и региональным центрам России и др.
  3. Министерство образования и науки Российской Федерации (45)

    Документ
    Сводные данные международных мероприятий в области образования, науки и инноваций издаются в виде брошюр с 1986 г. и рассылаются по министерствам, ведомствам и организациям, федеральным и региональным центрам России и др.
  4. Бюллетень новых поступлений за июнь август 2011 г

    Бюллетень
    Стоимостная оценка недр = Profitability evaluation of subsurface areas: учебное пособие / Ю. П. Ампилов ; Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова. - Изд. 2-е, перераб.

Другие похожие документы..