Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

'Документ'
Идея проведения совместного междисциплинарного семинара возникла, прежде всего, благодаря взаимному интересу к тематике, связанной с наиболее быстро ...полностью>>
'Исследование'
1.1.Онищенко В.П. Исследование повреждения рабочих поверхностей зубьев при приложении кратковременных нагрузок Тезисы докладов I-й областной конфер...полностью>>
'Документ'
Прибув на підприємство 25 червня, пройшов інструктаж із загальної техніки безпеки на підприємстві, та Т.Б на робочому місці системного адміністратора...полностью>>
'Документ'
и в этой области написано столько, что сегодня автор, пытающийся при анализе антисемитизма опереться на некоторое понимание русской истории, оказывае...полностью>>

Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии

Главная > Доклад
Сохрани ссылку в одной из сетей:

Список принятых докладов по секциям XXIV Российской конференции по электронной микроскопии

1. Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая)

АТОМНАЯ СТРУКТУРА ТРЕКОВ ИОНОВ КСЕНОНА В КОМПОЗИТНЫХ ВТСП НА ОСНОВЕ YBCO (123).

Л.Х. Антонова1, Г.Н.Михайлова1, А.В.Троицкий1, А.Ю.Дидык2, Т.Е Демихов3, Е.И.Суворова4

1Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва

2Лаборатория ядерных реакций им. Г.Н.Флерова ОИЯИ, Дубна

3Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН, Москва

4Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва

ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОКРИСТАЛЛОВ CdS, СФОРМИРОВАННЫХ В ПЛЁНКАХ ЛЕНГМЮРА-БЛОДЖЕТТ

С. А. Бацанов, А. К. Гутаковский

ИФП СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева, 13

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ АТОМНОГО ПОРЯДКА АМОРФНОГО ГЕРМАНИЯ ВБЛИЗИ ГРАНИЦЫ С КРИСТАЛЛОМ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ВРЭМ

Н.И. Боргардт1, М. Зайбт2, К. Тиль2

1Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д. 5

24-й Физический институт Геттингенского университета, Геттинген, ФРГ

КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОТРУБОК СОСТАВА БОР-УГЛЕРОД-АЗОТ С Al2O3 В КАЧЕСТВЕ НАПОЛНИТЕЛЯ

Ю.С. Буранова, В.Д. Бланк, Б.А. Кульницкий, И.А. Пережогин,

Е.В. Поляков

ФГБНУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», 142190, Московская область, г. Троицк, ул. Центральная 7а

Исследование межслоевых границ ZrN/ScN сверхрешеток, применяемых в высокотемпературных термоэлектрических преобразователях энергии, методами просвечивающей электронной микроскопии

Polina V.Burmistrova, Timothy D. Sands, Dong Su, Eric Stach

ИССЛЕДОВАНИЕ границ раздела гетеросистем методом просвечивающей растровой электронной микроскопии

А.Л. Васильев1,2, В.В. Роддатис1.

1НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

2Учреждение РАН «Институт кристаллографии РАН им.А.В.Шубникова» 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59

ЭЛЕКТРОННАЯ ТОМОГРАФИЯ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ АМОРФНЫХ И НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ СИСТЕМ CoW-CoNiW И CoP-CoNiP

О.В. Войтенко1, Е.Б. Модин1, Е.В. Пустовалов1, Б.Н. Грудин1, В.С. Плотников1, С.С. Грабчиков2, Л.Б. Сосновская 2

1Дальневосточный Федеральный Университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950

2 ГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению», г. Минск, П.Бровки 19, 220072

ИДЕНТИФИКАЦИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ВКЛЮЧЕНИЙ В УГЛЕСИТАЛЛЕ

Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин

Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, пр. 4806, д. 5

Морфометрические и спектральные признаки для классификации наноструктур в аморфных сплавах

Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Н.А. Смольянинов, Е.Б. Модин

Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950

Применение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии для изучения магнитной структуры ферромагнитных частиц

С.А.Гусев, А.Ю.Климов, Е.В.Скороходов

Учреждение Российской академии наук ИФМ РАН, ГСП-105, г.Н.Новгород

ИССЛЕДОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ НИЗКОРАЗМЕРНЫХ СИСТЕМ МЕТОДАМИ АНАЛИТИЧЕСКОЙ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ
А.К. Гутаковский, А.В. Латышев

Институт физики полупроводников СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Лаврентьева, 13

СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОПОРОШКОВ ДИОКСИДА ОЛОВА, ПОЛУЧЕННЫЕ ЛАЗЕРНЫМ ИСПАРЕНИЕМ

Т.М. Дёмина, А.И. Медведев, А.М. Мурзакаев, О.М. Саматов,

Е.Ю. Соболева, О.Р. Тимошенкова

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: Aidar@iep.uran.ru

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПЛЁНОК BiFeO3

О.М. Жигалина1, Д.Н. Хмеленин 1, К.А. Воротилов2, А.А. Мазитов2,

И.С. Серёгин2

1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333 Ленинский проспект, 59, Москва, Россия

2Московский государственный институт радиотехники электроники и автоматики (ТУ), 119434 Проспект Вернадского, 78, Москва, Россия

электронная микроскопия ультратонких слоев металла на носителе ОСНТ

О.М. Жигалина1, А.Л. Чувилин2, В.Г. Жигалина1, Е.Н. Никулина2,

Е.К. Тусеева3, О.А. Хазова3, Н.А. Киселев1

1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии

имени А.В. Шубникова РАН, 119333, Москва, Ленинский проспект, 59, Россия

2 Nanoscience research center CIC nanoGUNE, 20012, San Sebastián, Basque Country (Spain)

3Институт физической химии и электрохимии имени А.Н. Фрумкина РАН, 119991, Москва, Ленинский проспект, 31, Россия

Электронная микроскопия платинированных углеродных носителей для каталитических систем топливных элементов

О.М. Жигалина1, И.И. Пономарев2, В.Г. Жигалина1, Д.Н. Хмеленин1, В.В. Гребенев1, Д.Ю. Разоренов2, Ив.И. Пономарев2, Н.А. Киселев1

1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии

им. А.В. Шубникова РАН, 119333, Москва, Ленинский проспект, 59, Россия

2Учреждение Российской академии наук Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН, 119997, ГСП-1, Москва, ул. Вавилова, 28, Россия

Структура двойного окисла UMo4O14

Н.Д.Захаров, E.Пиппель, Р.Хиллебранд, П.Вернер

Max-Planck Institute of Microstructure Physics, Weinberg 2, 06120 Halle/Saale, Germany

Просвечивающая электронная микроскопия дефектов в нано-пирамидальных структурах на основе нитрида индия-галлия для использования в светоизлучающих диодах

Д.Н. Захаров,1 R. Colby,1,2 I.H. Wildeson,1,3 Z. Liang,2 N. Zaluzec,4 R.E. Garcia,2

T.D. Sands,1,2,3 and E.A. Stach1,2

1 Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

2 School of Materials Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

3 School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

4 Electron Microscopy Center, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439

СТРУКТУРА НАНОКОМПОЗИТА 1D катионный проводник@ОСНТ

Н.А. Киселев1, А.С. Кумсков1, Р.М. Закалюкин1, А.Л. Васильев1,

А.А. Елисеев2, А.В. Крестинин3, Б. Фрейтаг4.

1 Институт кристаллографии РАН, г. Москва

2 МГУ, Факультет наук о материалах

3 Институт проблем химической физики РАН

4 FEI Company, Эйндховен, Нидерланды

ИССЛЕДОВАНИЕ НАЧАЛЬНЫХ СТАДИЙ ЭПИТАКСИАЛЬНОГО РОСТА КРЕМНИЯ НА САПФИРЕ МЕТОДОМ ПЭМ

Н.О. Кривулин, Д.А. Павлов, П.А. Шиляев, А.И. Бобров, М.Д. Пегасина

ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 603950, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, 23

ПРЕДСТАВЛЕНИЯ О ТОНКОМ СТРОЕНИИ МЕЖФАЗНЫХ ГРАНИЦ В ТВЕРДЫХ СПЛАВАХ СИСТЕМЫ КАРБИД ХРОМА - ТИТАН, ПОЛУЧЕННЫХ ВЗРЫВНЫМ ПРЕССОВАНИЕМ

А. В. Крохалев1, В. О. Харламов1, С. В. Кузьмин1, В. И. Лысак1,

В. Я. Шкловер2, П. Р. Казанский2, Н. В. Швындина1, С.Н. Хаханов2

1Волгоградский государственный технический университет,400005, Волгоград, пр. Ленина 28

2 ООО «Системы для Микроскопии и Анализа», 119333, г. Москва, Ленинский проспект д.59, стр.2

СИНТЕЗ И СТРУКТУРА СФЕРИЧЕСКИХ НАНОЧАСТИЦ Y2O3ZnO

Е.А. Кудренко1,2, Н.А. Дулина3, Ю.В. Ермолаева3, А.В. Толмачев3,

А.Л. Васильев2, А.Н. Грузинцев4, Г.А. Емельченко1.

1)Учреждение Российской академии наук Институт физики твердого тела РАН, Черноголовка Московской обл.

2)Российский научный центр "Курчатовский институт", Москва

3) Институт монокристаллов, НТК «Институт монокристаллов» НАН Украины, Харьков, Украина

4)Учреждение Российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники РАН, Черноголовка Московской обл.

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ПИРОУГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛАХ

В.Н. Кукин, Н. И. Боргардт, Р. Л. Волков

Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д. 5

СТРУКТУРА НАНОКОМПОЗИТОВ 1DCuI@SWNT (CVD) И 3DCuI@SWNT (CVD)

А.С. Кумсков1, В.Г. Жигалина1, Н.И. Вербицкий2, А.Л. Чувилин3, А.Г. Рябенко4, А.А. Елисеев2, Н.А. Киселев1

1 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Москва, 119333, Россия

2 Факультет наук о материалах, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, 119991, Ленинские горы, Россия

3 Nanoscience research center CIC nanoGUNE, San Sebastián, 20012, Basque Country (Spain)

4 Институт проблем химической физики, Черноголовка, 142432, Московская область, Россия

Анализ дислокационной структуры ультратонких эпитаксиальных пленок титаната бария-стронция, выращенных на подложках MgO

А.Н. Кускова1, О.М. Жигалина1, А.Л. Чувилин3, В.М. Мухортов2

1Институт кристаллографии РАН, г. Москва, Ленинский проспект, 59

2Южный научный центр РАН, 344082, Ростов-на-Дону, ул. Большая Садовая, 33

3Nanoscience research center CIC nanoGUNE, Tolosa Hiribidea, 76, E-20018 Donostia-San Sebastian, Spain

Анализ дислокационной структуры эпитаксиальных пленок титаната бария-стронция, выращенных на подложках MgO, С ПОМОЩЬЮ КАРТИН МУАРА

А.Н. Кускова1, О.М. Жигалина1, В.М. Мухортов2

1Институт кристаллографии РАН, г. Москва, Ленинский проспект, 59

2Южный научный центр РАН, 344082, Ростов-на-Дону, ул. Большая Садовая, 33

CТРУКТУРА ГРАФЕНА, ПОЛУЧЕННОГО НА МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОДЛОЖКАХ В АТМОСФЕРЕ АЦЕТИЛЕНА

В.Н. Матвеев, О.В. Кононенко, В.И. Левашов, В.Т. Волков, И.И. Ходос

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН,

г. Черноголовка 142432, Московская обл.

НОВАЯ МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЯ В ПЭМ АТОМНОЙ СТРУКТУРЫ НАНОЧАСТИЦ СВЕРХМАЛЫХ РАЗМЕРОВ

В.И. Николайчик1, М.А. Запорожец2, И.И. Ходос1

1Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432, г. Черноголовка, Московская область, Россия

2Инстиут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333, г. Москва, Ленинский проспект, 59, Россия

Особенности формирования нанокластеров золота В МАТРИЦЕ SiO2

1,2Д.Е. Николичев, 1А.В. Боряков, 2Ю.А. Дудин, 2Д.И. Тетельбаум, 1А.И. Бобров, 1Д.А. Павлов, 2А.Н. Михайлов, 2А.И. Белов, 1,2А.Б. Костюк

1ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, пр. Гагарина 23

2НИФТИ ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, пр. Гагарина 23

MISFIT DETERMINATION AND INVESTIGATION OF CRYSTAL DEFECTS IN PLATINUM AND NICKEL-BASED ALLOYS BY MEANS OF CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION

Elizaveta Nikulina1, Rainer Völkl2, Andrey Chuvilin,1,3 and Uwe Glatzel2

1CIC nanoGUNE Consolider, Tolosa Hiribidea 76, E-20018 San Sebastian, Spain

2Chair of Metals and Alloys, Bayreuth University, Ludwig-Thoma-Straße 36b, D-95447 Bayreuth, Germany

3Ikerbasque, Basque Foundation for Science, Alameda Urquijo 36-5, E-48011, Spain

Исследование гетероструктур на основе AlGaN методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии

А.С.Орехов1,2, М.Ю.Пресняков2,, А.В.Ничипоренко2, Ю.Н. Свешников3,

А.Л. Васильев1,2

1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им.

А.В. Шубникова РАН, 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59

2НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

3ЗАО Элма-Малахит–Концерн Энергомера, 124460 Зеленоград, Россия

ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ СВЕРХПРОВОДящих лент Второго поколения НА ОСНОВЕ YBCO

А.С.Орехов1,2, М.Ю.Пресняков2, В.В.Роддатис2, А.В.Овчаров2, А.Л.Васильев1,2.

1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им.

А.В. Шубникова РАН, 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59.

2НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

Гетероструктуры с Ge(Si) самоформирующимися наноостровками на Si/Si(001): исследование структуры и элементного состава методами просвечивающей электронной микроскопии

Д.А. Павлов, А.И. Бобров, д.ф.-м. н., проф. З.Ф. Красильник, А.В.Новиков, Д.Н.Лобанов.

ННГУ им. Лобачевского, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, 23, корп. 3, 3603950

ИССЛЕДОВАНИЕ ПОПЕРЕЧНОГО СРЕЗА ПЕРИОДИЧЕСКИХ СТРУКТУР GaAs/InGaAs МЕТОДОМ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩЕЙ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Д.А. Павлов1, Н.В. Малехонова1, А.И. Бобров1, Н.В. Байдусь2,

Д.С. Смотрин2

1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского (ННГУ)

2Научно-исследовательский физико-технический институт ННГУ

Распределение нанофазы тантала в пленках металлосодержащих кремний-углеродных нанокомпозитов

М. Ю. Пресняков, А.И. Попов, Н.Д. Васильева

Национальный исследовательский университет «МЭИ»

КРИСТАЛЛИЗАЦИЯ И СТРУКТУРНАЯ РЕЛАКСАЦИЯ АМОРФНЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ CoP-CoNiP

Е.В.Пустовалов1, А.Л.Чувилин2,3, Е.Б.Модин1, В.С.Плотников1, С.В.Должиков1, С.С.Грабчиков4, О.И.Потужная4

1 Дальневосточный федеральный университет, 690950, Россия, г.Владивосток

2 CIC nanoGUNE Consolider Tolosa Hiribidea, 76 E-20018 Donostia - San Sebastian, Spain

3 IKERBASQUE, Basque Foundation for Science, 48011, Bilbao, Spain

4 ГНПО "Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению" 220072, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки 19

АЛГОРИТМЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ТОМОГРАФИИ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ

Е.В. Пустовалов, Б.Н. Грудин, О.В. Войтенко, В.С. Плотников

Дальневосточный федеральный университет, 690950, Россия, г.Владивосток, ул. Суханова 8

ИССЛЕДОВАНИЯ BN НАНОТРУБОК ПОЛИГОНАЛЬНОГО СЕЧЕНИЯ ИЗ НИТРИДА БОРА С Al2O3 В КАЧЕСТВЕ НАПОЛНИТЕЛЯ

А.Н. Семёнов, В.Д. Бланк, Б.А. Кульницкий, И.А. Пережогин, Е.В. Поляков

ФГБНУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», 142190, Московская область, г. Троицк, ул. Центральная, 7а

Моделирование аморфных и нанокристаллических сплавов на базе распределенной вычислительной сети с графическими процессорами

И.С.Смирнов, А.В. Колесников, Е.В. Пустовалов, В.С. Плотников.

Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950

ПЭМ ИССЛЕДОВАНИЕ СЛОЯ GaN, ВЫРАЩЕННОГО В ПОЛУПОЛЯРНОМ НАПРАВЛЕНИИ НА ПЛАНАРНОЙ ПОДЛОЖКЕ (001)Si МЕТОДОМ ХЛОРИДНОЙ ГАЗОФАЗНОЙ ЭПИТАКСИИ

Л.М. Сорокин1, А.Е.Калмыков1, А.В.Мясоедов1, В. Н Бессолов1,

А.В. Осипов2, С.А. Кукушкин2

1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, 194021 Санкт-Петербург Политехническая 26, Россия

2Институт проблем механики РАН, 199178, г. Санкт-Петербург, Россия

e-mail: amyasoedov88@gmail.com

Действие быстрых тяжелых ионов на многослойные наноструктуры Si/SiO2

А.Г. Черков, С.Г. Черкова, Г.А. Качурин, В.А. Володин, Д.В. Марин,

А.Х. Антоненко, В.А. Скуратов

1) Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, 630090 Новосибирск, Россия

2) Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Россия

3) Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия

ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ Si ПОСЛЕ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИИ Ar+ И He+

Ю.М. Чесноков1, А.Л.Васильев1,2, Лукичев В.Ф3, Руденко К.В3

1НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

2Учреждение РАН «Институт кристаллографии ран им.А.В. Шубникова» 119333 Россия, г.Москва, Ленинский пр., 59

3Учреждение РАН «Физико-технологический институт РАН»

117218, Россия, г. Москва, Нахимовский пр., 36/1

2. Электронная микроскопия в исследовании новых материалов, включая наноструктуры

ОСОБЕННОСТИ СТРОЕНИЯ И СВОЙСТВА ЛАЗЕРНЫХ КЕРАМИК

М.Ш. Акчурин, Р.В. Гайнутдинов , В.Г. Галстян, Р.М.Закалюкин,

А.А. Каминский, И.И. Купенко

Институт кристаллографии РАН, Москва, 119333, Ленинский пр., 59

Исследования методом высоковольтной просвечивающей электронной микроскопии наноструктур Gе/Si(001), выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии в низкотемпературном режиме

Л.В. Арапкина, В.П. Калинушкин, О.В. Уваров, В.А. Юрьев

Институт общей физики им. А.М.Прохорова РАН, ул. Вавилова, 38, Москва, 119991, РФ

Фазовые превращения и структура металлических нанокристаллов

А.С. Аронин, Г.Е. Абросимова,

Институт физики твердого тела РАН, 142432, г. Черноголовка Московской области,

ул. Академика Осипьяна, д.2

Получение стержневидных наноразмерных кристаллов ZnO для изготовления точечных автоэлектронных эмиттеров

В.В. Артемов, А.С. Лавриков

Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН

энергетические конденсированные системы (ЭКС)

С УЛЬТРА- и НАНОРАЗМЕРНЫМ АЛЮМИНИЕМ: ПОЛУЧЕНИЕ, МИКРОСТРУКТУРА И ПАРАМЕТРЫ ГОРенИЯ

Е.С. Афанасенкова1, Н.Г. Березкина1, А.Н. Жигач1, Б.В. Кудров1, М.Л. Кусков1, И.О. Лейпунский1, Н.В. Муравьев2, К.А. Моногаров2, П.А. Пшеченков1, Ю.В. Фролов2, О.М. Жигалина3.

1 Учреждение Российской Академии наук Институт энергетических проблем химической физики РАН, 119334, Москва, Россия, Ленинский проспект, 38, корп.2.

2Учреждение Российской академии наук Институт химической физики им. Н.Н. Семенова РАН, 119334, Россия, Москва, ул. Косыгина 4.

3Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии РАН им. А.В. Шубникова, 119333, Москва, Ленинский проспект, 59

СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОПОРОШКОВ ДИОКСИДА ОЛОВА, ПОЛУЧЕННЫЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ВЗРЫВОМ ПРОВОЛОКИ

А.В. Багазеев, И.В. Бекетов, Т.М. Демина, А.И. Медведев, А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: Aidar@iep.uran.ru

О СТРУКТУРНО-МОРФОЛОГИЧЕСКИХ ПРИЗНАКАХ РЕАКЦИЙ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ АМОРФНЫХ ПЛЕНОК, ВЫЯВЛЯЕМЫХ МЕТОДОМ ПЭМ

А.Г. Багмут

Национальный технический университет “Харьковский политехнический институт”

61002, Украина, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21. E-mail: Bagmut@kpi.kharkov.ua

ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ МИКРОАНАЛИЗ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ КОМПОЗИЦИИ «КРЕМНИЙ – БОР – БОРИД ЦИРКОНИЯ» НА ГРАФИТЕ

И.Б.Баньковская, И.А.Васильева, Л.П.Ефименко

Институт химии силикатов им. И.В. Гребенщикова РАН, Россия

199034, г. Санкт-Петербург, наб. Макарова, д. 2

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРНО-ФАЗОВОГО СОСТОЯНИЯ

ПЛЕНОК ФУЛЛЕРИТ-ОЛОВО МЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ И ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Л.В. Баран

Белорусский государственный университет, 220030, г. Минск, пр. Независимости, 4

КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА И МОРФОЛОГИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК СУЛЬФИДА ОЛОВА

С.А. Башкиров1, В.Ф. Гременок1, А.Н. Петлицкий2, А.С. Турцевич2,

С.В. Шведов2, В.В. Цыбульский2

1Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению, П. Бровки 19, 220072, Минск, Беларусь

2НТЦ «Белмикросистемы», Корженевского 12, 220108, Минск, Беларусь

СОСТАВ И СТРУКТУРА КОМПОЗИТОВ Pt/Si НА ПОДЛОЖКАХ SiO2/Si ДЛЯ ПОСЛЕДУЮЩЕГО ОСАЖДЕНИЯ PZT

В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, В.А. Марченко

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, Московская область, Россия

ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ПАРАМЕТРОВ МУЛЬТИСЛОНОЙ АРХИТЕКТУРЫ НА РАЗМЕР КРИСТАЛЛИТОВ В ARC-PVD НАНОСТРУКТУРНЫХ ПОКРЫТИЯХ

И.В. Блинков, А.О. Волхонский

Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»

Г. Москва, 11904,9 Ленинский проспект, 4

ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ И СТРУКТУРНЫХ ОСОБЕННОСТЕЙ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОКОМПОЗИТА CNT/SnOX НА ОСНОВЕ СЛОЕВ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК

В.В. Болотов, Е.В. Князев, В.Е. Росликов, Ю.А. Стенькин,

Р.В. Шелягин

Омский филиал Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН г. Омск ул. 5-я Кордная 2,9 индекс 644018

Морфология и структурные особенности формирования нанокомпозитов por-Si/SnOx

В.В. Болотов, Е.В. Князев, В.Е. Росликов, Ю.А. Стенькин,

Р.В. Шелягин.

Омский филиал Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН г. Омск ул.5-я Кордная 29 индекс 644018

О ВЛИЯНИИ СЛАБЫХ НИЗКОЧАСТОТНЫХ ИМПУЛЬСНЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ НА ЛОКАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА ПРЕЦИЗИОННЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ Fe-Si-Al

А.А. Вирюс1, Т.П. Каминская2, В.В. Коровушкин3, М.Н. Шипко4,

М.А. Степович4, 5

Институт экспериментальной минералогии РАН, 142432, Московская область, Ногинский р-н, г. Черноголовка, ул. Институтская, д. 4

2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, 119991, ГСП-1,

г. Москва, Ленинские горы, д. 1, строение 2, Физический факультет

3Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049,

г. Москва, Ленинский пр., д. 4

4Ивановский филиал Российского государственного торгово-экономического университета, 153000, г. Иваново, ул. Дзержинского, д. 53

5Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского, 248023, г. Калуга,

ул. Ст. Разина, д. 26

ЭЛЕКТРОННОМИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ И СОСТАВА ИОННО-ПЛАЗМЕННЫХ ДУГОВЫХ ПОКРЫТИЙ Ti-Al-Cu-N

А.О. Волхонский, И.В. Блинков, Д.С. Белов, А.В. Ершова

Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»,

г. Москва, 119049, Ленинский проспект, 4

КОНТРОЛЬ УПОРЯДОЧЕННОГО РОСТА АНОДНОГО ОКСИДА АЛЮМИНИЯ ПРИ ВЫСОКИХ НАПРЯЖЕНИЯХ МЕТОДАМИ АСМ И РЭМ

1Гасенкова И.В., 1Мазуренко Н.И., 1Остапенко Е.В., 2Жавнерко Г.К.

1Институт физики НАН Беларуси, Республика Беларусь, 220090 г. Минск, Логойский тракт, 22; 2Институт химии новых материалов НАН Беларуси, Республика Беларусь, 220141, г. Минск, ул.Ф.Скорины, 36

Особенности взаимодействия силицидных эвтектик (W,Mo)5Si3 + (W,Mo)Si2 с углеродными материалами при 1920-2050ºС

Гнесин Б.А., Гнесин И.Б., *Некрасов А.Н.

142432, Россия, Московская обл., г. Черноголовка, Институт физики твердого тела РАН

*142432, Россия, Московская обл., г. Черноголовка, Институт экспериментальной минералогии РАН

CТРУКТУРА МЕТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОПРОВОЛОК, ОБРАЗУЮЩИХСЯ В ВИХРЯХ СВЕРХТЕКУЧЕГО ГЕЛИЯ

Е.Б. Гордон1, А.В. Карабулин1, В.И. Матюшенко2, В.Д. Сизов2, И.И. Ходос3

1Институт проблем химической физики РАН, Черноголовка, Московская область, 142432

2Филиал Института энергетических проблем химической физики РАН

Черноголовка, Московская область, 142432

3Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

Черноголовка, Московская область, 142432

Генерация и рекомбинационные свойства протяженных дефектов нового типа в кристаллах кремния

В.Г. Еременко, П.С. Вергелес

Учреждение Российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432, г. Черноголовка, Московская обл., Россия.

In situ электронно-микроскопические и электронографические исследования процессов твердофазных реакций в тонких плёнках

С.М. Жарков 1,2, Р.Р. Алтунин 1,2, Е.Т. Моисеенко 1,2, С.Н. Варнаков 1,3

1 Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, Академгородок, Красноярск, 660036, 2 Сибирский федеральный университет, пр. Свободный, 79, Красноярск, 660041, Россия

3 Сибирский государственный аэрокосмический университет им. академика М.Ф. Решетнева, 660014, Красноярск, Россия

E-mail: zharkov@

УПОРЯДОЧЕННЫЕ СТРУКТУРЫ НА ОСНОВЕ САМООРГАНИЗАЦИИ НАНОЧАСТИЦ Au и CdSe

М.А. Запорожец1, С.В. Савилов2, О.М.Жигалина1, В.В. Волков1, В.И.Николайчик3, С.П. Губин4, А.С. Авилов1

1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Ленинский пр-т, 59, Москва 119333

2Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, ГСП-1, Ленинские горы, г. Москва, 119991, 3Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл. 142432, 4 Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН, ГСП-1 Ленинский пр-т, 31,

г. Москва, 119991

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ В ИССЛЕДОВАНИИ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ МЕТАЛЛОПОЛИМЕРНЫХ КАТАЛИЗАТОРОВ

М.А. Запорожец1, М.Е. Григорьев2, В.Г. Матвеева2, Э.М. Сульман2,

А.С. Авилов1

1 Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333, Москва, Ленинский пр. 59

2 ФГБОУВПО «Тверской государственный технический университет», 170026, Тверь, наб. А. Никитина, 22

ИССЛЕДОВАНИЕ И АНАЛИЗ РАЗМЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК И ФАЗОВОГО СОСТАВА НАНОЧАСТИЦ ОКСИДА АЛЮМИНИЯ И ОКСИДА ТИТАНА

В.В. Иванов1, А.А. Лизунова1, И.В. Бекетов2, А.М. Мурзакаев2,

И.А. Медведев2

1ООО «МЦ РОСНАНО», 117036, г.Москва, просп. 60-летия Октября, д.10А, anna.lizunova@gmail.com

2 ИЭФ УрО РАН, 620016, г.Екатеринбург, ул. Амундсена, д.106

СУБТРУКТУРА, МОРФОЛОГИЯ И МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА

ВАКУУМНЫХ КОНДЕНСАТОВ Cu, Ag и Ag-Cu

В. М. Иевлев1, Е. К. Белоногов2, М.А. Босых2, С.Б. Кущев2, С.А. Солдатенко 2

1 Воронежский государственный университет,

394006, г. Воронеж, Университетская пл., 1

2 Воронежский государственный технический университет,

394026, г. Воронеж, Московский пр. 14

СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ И ФЕРРОМАГНЕТИЗМ ПРИ КОМНАТНОЙ ТЕМПЕРАТУРЕ НАНОПОРОШКОВ ZnO-Zn-Cu

В.Г. Ильвес, А.И. Медеведев, А.М. Мурзакаев, С.Ю. Соковнин

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: Aidar@iep.uran.ru

ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕФЕКТОВ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ НА ОСНОВЕ Ni3Al ПОСЛЕ ВЫСОКО ТЕМПЕРАТУРНОЙ ДЕФОРМАЦИИ И РАЗРУШЕНИЯ

Н.В. Казанцева, Н.И. Виноградова, Н.Н. Степанова

Институт физики металлов УрО РАН, 620990, г. Екатеринбург, ул.С.Ковалевской, д.18

ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ СВЕРХПРОВОДНИКОВ НА ОСНОВЕ Nb3Sn

И.А. Каратеев1, А.С. Орехов1,2, М.Ю. Пресняков1, А.Л. Васильев1,2, И.М. Абдюханов3, Дергунова3, С.М. Балаев3

1НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

2Учреждение РАН «Институт кристаллографии РАН им.А.В.Шубникова» 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59

3ОАО ВНИИНМ, 123060, г. Москва, ул. Рогова 5а.

МИКРОСТРУКТУРА И ЭФФЕКТЫ УПОРЯДОЧЕНИЯ В КАТОДНЫХ МАТЕРИАЛАХ НА ОСНОВЕ КОМПОЗИТОВ Li4Ti5O12/C

Д.Г. Келлерман1, В.С. Горшков2, Е.В. Шалаева1, Б.А. Царев, Е.Г. Вовкотруб

1Институт химии твердого тела УрО РАН, ул. Первомайская 91, Екатеринбург

2ООО “Элиот”, ул. Шефская 1б, Екатеринбург

3ИВТЭ УрО РАН, ул. С. Ковалевской 22, г. Екатеринбург



Скачать документ

Похожие документы:

  1. Старцева Олга Геннадиевна Секретарь ученого совета факультета Усынина анна Александровна Архангельск 2009 (оборот титульного листа) отчет

    Публичный отчет
    Подготовка дипломированных специалистов по основной образовательной программе (ООП) по специальности 060103 «Педиатрии» ведется в Северном государственном медицинском университете с 1979года в соответствии с Приказом Министерства
  2. Итоговый отчет государственного образовательного учреждения высшего профессионального образования «Пермский государственный университет» по результатам реализации инновационной образовательной программы

    Публичный отчет
    «Формирование информационно-коммуникационной компетентности выпускников классического университета в соответствии с потребностями информационного общества»
  3. Секция 1 Аналитическая химия

    Доклад
    Many societies are becoming more and more reliant on natural products as opposed to synthetic products. Because of many benefits; helps to reduce the attack by diseases such as coronary heart diseases, high blood pressure and other
  4. Прикладная юридическая психология

    Документ
    Столяренко Алексей Михайловичдоктор психологических наук, профессор, полковник вн. сл., один из самых известных российских специалистов в области юридической психологии.
  5. Доклад министра образования и молодежной политики Чувашской Республики

    Доклад
    От имени Министерства образования и молодёжной политики Чувашской Республики сердечно рад в преддверии нового учебного года приветствовать Вас на нашем форуме.

Другие похожие документы..