Поиск

Полнотекстовый поиск:
Где искать:
везде
только в названии
только в тексте
Выводить:
описание
слова в тексте
только заголовок

Рекомендуем ознакомиться

'Реферат'
Предпрофильная подготовка учащихся направлена на развитие их интереса к химии, возбуждения желания углубить и расширить свои знания по этой учебной д...полностью>>
'Документ'
Жечь было наслаждением. Какое-то особое наслаждение видеть, как огонь пожирает вещи, как они чернеют и меняются. Медный наконечник брандспойта зажат ...полностью>>
'Документ'
С точки зрения Совета Европы, многообразие культур - одно из ключевых условий существования современного общества. Благодаря развитию межкультурного ...полностью>>
'Документ'
1. Головне управління економіки Миколаївської обласної державної адміністрації (далі - управління) є структурним підрозділом Миколаївської обласної д...полностью>>

Главная > Документ

Сохрани ссылку в одной из сетей:

УДК 621.382(06) Микроэлектроника


И.И. ШАГУРИН, А.В. ЛЕБЕДЕВ, М.А. КИРИЛЛОВ

Московский инженерно-физический институт (государственный университет)

МЕТОДИКА ИСПЫТАНИЯ НА РАДИАЦИОННУЮ СТОЙКОСТЬ МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ С АРХИТЕКТУРОЙ MCS-51 ПРИ ИМПУЛЬСНОМ И ДОЗОВОМ ВОЗДЕЙСТВИИ

Разработана методика испытаний на радиационную стойкость 8-разрядных микроконтроллеров с архитектурой MCS-51, обеспечивающая проверку функционирования основных функциональных блоков и выявление их отказов при импульсном и дозовом воздействии. Описан предложенный алгоритм тестирования и его программная реализация.

Микроконтроллеры с архитектурой MCS-51 выпускаются рядом российских и зарубежных производителей и широко используются в различной специальной аппаратуре. Поэтому испытания радиационной стойкости различных образцов этих микроконтроллеров представляют значительный интерес для разработчиков аппаратуры.

Анализ архитектуры MCS-51 (регистровая модель, система команд и способов адресации, набор основных функциональных блоков) позволил разработать алгоритм последовательного тестирования функциональных блоков. Процедура тестирования состоит из следующей последовательности операций:

  • Вывод постоянно обновляемой тестовой информации на 8-разрядные порты ввода/вывода.

  • Ветвление командами условного и безусловного перехода.

  • Запись, чтение и хранение данных в регистрах общего назначения.

  • Выполнение команд, использующих арифметико-логический блок.

  • Реализация регистровой, косвенно-регистровой, непосредственной адресации.

Для тестирования микроконтроллера при импульсном воздействии разработана программа C51m1pv1, реализующая следующий алгоритм.

1. В один из свободных портов поочередно выводятся константы "0х56" и "0хАА". При этом контролируется выполнение вывода данных из порта и значения уровней логического "0" и "1".

2. В другой свободный порт выводится содержимое текущей ячейки памяти. При этом контролируется последовательное изменение значения на выводах данного порта в соответствии с алгоритмом заполнения памяти. Процесс заполнения ячеек памяти реализован таким образом, что позволяет произвести запись и чтение во все ячейки памяти всех констант от "0х00" до "0хFF".

Для тестирования микроконтроллера при дозовом воздействии разработана программа C51m1dv1, реализующая следующий алгоритм:

1. В один из свободных портов постоянно выводится номер текущей ячейки памяти, из которой происходит чтение содержимого. При этом контролируется строгое последовательное изменение с увеличением на "1" значения на выводах данного порта. Кроме того, чтение содержимого текущей ячейки памяти каждый раз происходит после заполнении следующей ячейки памяти.

2. В другой свободный порт выводится содержимое текущей ячейки памяти. При этом контролируется строгое последовательное изменение значения на выводах данного порта в соответствии с алгоритмом заполнения памяти. Процесс заполнения ячеек памяти устроен таким образом, что позволяет произвести запись и чтение во все ячейки памяти всех констант от "0х00" до "0хFF".

По предложенной методике по заказу ЭНПО СПЕЛС проведены испытания опытных образцов микроконтроллера 1830ВЕ01У, который является функциональным аналогом 8-битного микроконтроллера TN87С51FA-33 семейства MCS-51. Испытания проводились при помощи универсального тестового модуля [1], позволяющего контролировать электрические параметры МК и осуществлять его функциональный контроль при проведении испытаний на радиационную стойкость. Использование данной методики позволило определить максимальный уровень бессбойной работы и уровень появления тиристорного эффекта при воздействии импульсного ионизирующего излучения [2].

Список литературы

1. Шагурин И.И., Лебедев А.В., Кириллов М.А. Тестовый модуль для испытаний микроконтроллеров на радиационную стойкость. - Радиационная стойкость электронных систем. «Стойкость-2004». Научно-технический сборник. Вып.7. М: МИФИ,2004. С.215 – 216.

2. Шагурин И.И., Лебедев А.В., Кириллов М.А. Испытание на радиационную стойкость опытных образцов микроконтроллера 1830ВЕ01. – Доклад представлен на научную сессию МИФИ 2005.

______________________________________________________________________

ISBN 5-7262-0555-3. НАУЧНАЯ СЕССИЯ МИФИ-2005. Том 1 127



Скачать документ

Похожие документы:

  1. Популяризаторские работы по Русской логике представлены на сайте

    Изложение
    Данное пособие является общедоступным изложением (букварём) инженерных методов разработки цифровых устройств, без освоения которых разработчик-цифровик не имеет права на звание инженера.
  2. Библиографический указатель 2009 2010 гг

    Библиографический указатель
    При работе над указателем использованы электронный каталог фонда библиотеки РГУПС, списки научных работ, представленные авторами, база данных «Труды ученых РГУПС» и издания отраслевых информационных институтов.

Другие похожие документы..